Advantest T2000 Modulares SoC- und Mixed-Signal-Halbleiter-Testsystem

Die Advantest T2000 ist eine skalierbare, automatische Testgeräteplattform, die für die Entwicklung, Charakterisierung und Produktionsprüfung komplexer Halbleiterbauelemente konzipiert wurde.

Das T2000 basiert auf einer flexiblen modularen Architektur und kann je nach den Anforderungen des zu testenden Geräts mit digitalen Ressourcen, Geräte-Stromversorgung, parametrischer Messung, Mixed-Signal-, Hochleistungs- und Bildaufnahme-Ressourcen konfiguriert werden.

Die Plattform unterstützt ein breites Spektrum an Halbleiteranwendungen, darunter SoCs, Mikrocontroller, FPGAs, Leistungsmanagement-ICs, Automobilgeräte, Industriekomponenten, Mixed-Signal-Bauelemente und CMOS-Bildsensoren.

Dank des skalierbaren Designs können Hersteller mit einem kompakten Engineering- oder Kleinserien-System beginnen und das Testgerät für höhere Kanalzahlen und Produktionsanforderungen mit mehreren Prüflingen erweitern.

Die tatsächliche Leistungsfähigkeit eines einzelnen Advantest T2000 hängt von seinem Hauptrahmen, dem Testkopf, den installierten Instrumentenmodulen, den Softwarelizenzen, der Schnittstellenhardware und dem anwendungsspezifischen Zubehör ab.

T2000-Plattformübersicht

Flexible modulare Testarchitektur

Der T2000 ist kein Halbleitertester mit fester Funktion. Seine Leistungsfähigkeit wird durch die Kombination der im System installierten Module bestimmt.

Durch diese modulare Struktur kann ein Tester an die elektrischen Eigenschaften eines bestimmten Halbleiterbauelements angepasst werden, anstatt dass jedes System die gleichen Instrumentenressourcen enthalten muss.

Eine T2000-Konfiguration kann folgende Kombinationen enthalten:

• Hochdichte digitale Testmodule

• Hochgeschwindigkeits-Seriellschnittstellenmodule

• Geräte-Stromversorgungsmodule

• Parametrische Maßeinheiten

• Generatoren für beliebige Wellenformen

• Wellenformdigitalisierer

• Hochspannungs-Mixed-Signal-Module

• Schwimmende Hochleistungsressourcen

• Kreuzpunktmatrixmodule

• CMOS-Bildaufnahmemodule

• Anwendungsspezifische Schnittstellenhardware

• Testkopf- und Leistungsplatinenbaugruppen

Diese Architektur hilft Halbleiterherstellern, Testkapazität, Kanaldichte und Kapitalinvestitionen in Einklang zu bringen.

Ein Entwicklungssystem kann so konfiguriert werden, dass es nur die für die Gerätecharakterisierung erforderlichen Ressourcen enthält. Zusätzliche Module und Testkapazitäten können dann für die Qualifizierung, die Pilotproduktion oder die Serienfertigung hinzugefügt werden.

Hauptanwendungen für Halbleitertests

SoC- und Digitalgeräte-Tests

Der Advantest T2000 kann für die Prüfung hochintegrierter System-on-Chip-Geräte konfiguriert werden, die digitale Logik, eingebetteten Speicher, analoge Schaltungen, Energiemanagementfunktionen und Hochgeschwindigkeitsschnittstellen enthalten.

Hochdichte digitale Module bieten die für Geräte wie beispielsweise folgende erforderliche Kanalanzahl:

• Mikroprozessoren

• Mikrocontroller

• FPGAs

• Consumer-SoCs

• Kommunikationsgeräte

• Schnittstellencontroller

• Digitale Signalverarbeitungsgeräte

• Integrierte Schaltkreise mit gemischten Funktionen

Verfügbare digitale Ressourcen können Funktionen wie die folgenden unterstützen:

• Funktionsmusterprüfung

• Scan-Test

• Algorithmische Mustergenerierung

• Speichertest

• Parametrische Messung pro Stift

• Quellsynchrones Testen

• Mehrere Zeitdomänen

• Testen der seriellen Schnittstelle

• Paralleles Schnittstellentesting

• Hochdichte, standortübergreifende Tests

Das richtige digitale Modul muss entsprechend der erforderlichen Datenrate, Pin-Anzahl, Timing-Genauigkeit und dem Ziel der Testparallelität ausgewählt werden.

Mixed-Signal- und Analogprüfung

Viele moderne Halbleiterbauelemente kombinieren digitale Logik mit analogen Funktionen. Der T2000 kann Wellenformerzeugung, Digitalisierung, Spannungsmessung und Strommessung in derselben Testplattform integrieren.

Je nach den installierten Modulen kann die Prüfung von Mixed-Signal-Systemen Folgendes umfassen:

• Erzeugung analoger Wellenformen

• Wellenform-Digitalisierung

• Spannungserzeugung

• Aktuelle Generation

• Spannungsmessung

• Strommessung

• ADC-Linearitätsprüfung

• DAC-Linearitätsprüfung

• Audiofrequenzprüfung

• Videobandbreitenmessung

• Differenzspannungsmessung

• Zeitmessung pro Kanal

• IDDQ-Test

• Statische und dynamische Gerätecharakterisierung

Dies ermöglicht es Herstellern, mehrere Funktionsblöcke eines komplexen ICs zu testen, ohne das Bauteil zwischen verschiedenen Testsystemen übertragen zu müssen.

Energiemanagement und Tests von Automobilgeräten

Das T2000 kann mit Geräte-Stromversorgungen und Hochleistungs-Mixed-Signal-Modulen zum Testen von Energiemanagement- und Automobil-Halbleiterbauelementen ausgestattet werden.

Mögliche Anwendungsgebiete sind:

• Kommunikations-PMICs

• ICs für das Energiemanagement von Verbrauchern

• Automobil-ASSPs

• Batteriemanagementgeräte

• Leistungssteuergeräte

• Spannungsregler

• Treiber-ICs

• Industrielle Leistungsgeräte

• Hochstrom-Halbleiterbauteile

• Integrierte Schaltungen mit gemischten Spannungen

Die verfügbaren Instrumentenressourcen können Folgendes bieten:

• Mehrere Gerätestromkanäle

• Hochstromversorgungsfähigkeit

• Floating-Spannungs- und Stromressourcen

• Statischer und gepulster Betrieb

• Schnelle Bereichsumschaltung

• Spannungs- und Strommodulation

• Gleichzeitige Spannungs- und Strommessung

• Kelvin-Messung

• Parallele Kontaktprüfung

• Hochspannungs-Digitalprüfung

• Kreuzungspunkt-Signalführung

Die genaue Spannung, Stromstärke und Kanalkapazität hängen vom installierten Modulsatz ab.

CMOS-Bildsensor-Test

Ein entsprechend konfigurierter Advantest T2000 kann für Produktionstests von CMOS-Bildsensoren verwendet werden.

CMOS-Bildsensoren enthalten häufig Bildsensor-Arrays zusammen mit digitaler Logik, ADC, DAC, Steuerschaltungen und Hochgeschwindigkeits-Ausgangsschnittstellen. Die modulare Architektur des T2000 ermöglicht die Kombination der benötigten digitalen, analogen, Stromversorgungs- und Bildaufnahmefunktionen in einem einzigen Testsystem.

Mögliche Anwendungsgebiete von CMOS-Bildsensoren sind unter anderem Geräte, die in folgenden Geräten verwendet werden:

• Smartphones

• Sicherheitskameras

• Autokameras

• Industriekameras

• Bildverarbeitungsgeräte

• Consumer-Imaging-Produkte

• Hochauflösende Kamerasysteme

Eine aktuelle Bildsensorkonfiguration kann die Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahme für MIPI-Schnittstellen, einen Dual-Bank-Aufnahmespeicher und dedizierte Bildverarbeitungsressourcen unterstützen.

Je nach installierter Konfiguration kann das System Folgendes bereitstellen:

• MIPI D-PHY Bildaufnahme

• MIPI C-PHY Bildaufnahme

• Optionale MIPI A-PHY-Unterstützung

• Hochgeschwindigkeits-Serienbilddatenerfassung

• Dualbank-Bildspeicher

• Spezielle Bildverarbeitungs-Engines

• Gleichzeitige Datenerfassung und -verarbeitung

• Multi-DUT-Bildsensorprüfung

• Funktionsprüfung von digitalen und analogen Systemen

• Produktionskapazität für große Stückzahlen

Die Testfähigkeit des Bildsensors einer gebrauchten T2000 muss anhand der installierten Aufnahmemodule, der Verarbeitungshardware, der Software und der Schnittstellengeräte überprüft werden.

Skalierbare Systemkonfiguration

Die Advantest T2000 Plattform kann für verschiedene Phasen der Halbleiterproduktentwicklung skaliert werden.

Kompakte Bauformen können dazu beitragen, die anfänglichen Investitionen für die Entwicklung oder die Kleinserienfertigung zu reduzieren.

Größere Konfigurationen bieten zusätzliche Testkopf-Steckplätze, Instrumentenkanäle und parallele Testressourcen für die Massenproduktion.

Parallelprüfung mehrerer Prüflinge

Das gleichzeitige Testen mehrerer Bauelemente ist eine wichtige Methode zur Reduzierung der Halbleitertestkosten.

Das T2000 nutzt hochdichte Module und Multi-Site-Steuerungstechnologie zur Unterstützung paralleler Tests. Die Anzahl der gleichzeitig testbaren Geräte hängt von folgenden Faktoren ab:

• Anzahl der Geräte-Pins

• Erforderliche Anzahl digitaler Kanäle

• Anforderungen an die Stromversorgung

• Ressourcen für analoge Messungen

• Schnittstellenplatinen-Design

• Testkopfkonfiguration

• Anzahl der Instrumentenmodule

• Testprogrammstruktur

• Handler- oder Sondenschnittstelle

• Gerätespezifische Testzeit

Die parallele Prüfung wird nicht allein durch das Testermodell bestimmt. Die gesamte Systemkonfiguration und das Testprogramm müssen auf das Zielgerät abgestimmt sein.

Ein korrekt konfiguriertes Multi-Site-System kann zur Verbesserung beitragen:

• Produktionsdurchsatz

• Testernutzung

• Kosten pro getestetem Gerät

• Anlagen- und Produktionseffizienz

• Produktivität von Handlern oder Sonden

• Gesamtproduktionskapazität

Fähigkeit zum gleichzeitigen Testen

Der T2000 kann je nach Programm und Geräteressourcen verschiedene Testfunktionen nacheinander oder gleichzeitig ausführen.

Durch gleichzeitiges Testen können unabhängige Gerätefunktionen gleichzeitig gemessen werden, anstatt warten zu müssen, bis jeder Test abgeschlossen ist, bevor der nächste gestartet werden kann.

Mögliche gleichzeitige Kombinationen können Folgendes umfassen:

• Digitaler Funktionstest und Leistungsmessung

• Analoge Messung und digitale Musterausführung

• Mehrere Leistungsbereichstests

• Bildaufnahme und Datenverarbeitung

• Parallele Messungen an mehreren Prüflingsstandorten

Effektives paralleles Testen kann die Gesamttestzeit verkürzen, erfordert jedoch geeignete Instrumentenressourcen und eine entsprechend entwickelte Testsoftware.

Entwicklung von Mehrbenutzertests

Die unterstützten T2000-Konfigurationen nutzen eine Multi-Site-CPU-Architektur, die es mehreren Ingenieuren ermöglicht, auf ein Testsystem zuzugreifen und unabhängig voneinander Debugging-Arbeiten durchzuführen.

Je nach System und Softwareumgebung können bis zu acht Benutzer unterstützt werden.

Dies kann Entwicklungsteams dabei helfen, die Entwicklungsarbeit nach Gerätefunktionen aufzuteilen, zum Beispiel:

• Digitaltest

• Analogtest

• Geräteleistung

• Speichertest

• Schnittstellentest

• Bildsensortest

• Produktionsoptimierung

• Datenanalyse

Mehrere Ingenieure können verschiedene Abschnitte des Testprogramms entwickeln oder debuggen, ohne dass für jede Person ein separater vollständiger Tester erforderlich ist.

Dieser Ansatz kann dazu beitragen, den Bedarf an technischer Ausrüstung zu reduzieren und die Entwicklungszeit von Testprogrammen zu verkürzen.

T2000 Software- und Entwicklungsumgebung

Die Softwareumgebung T2000 bietet Werkzeuge für die Erstellung von Testprogrammen, das Debugging, die Simulation und die Produktionsoptimierung.

Typische Softwarefunktionen können Folgendes umfassen:

• Rapid Development Kit-Umgebung

• Entwicklung wiederverwendbaren Testcodes

• Offline-Systemsimulation

• Musterbearbeitung

• Wellenformvisualisierung

• Logik-Analysefunktionen

• Werkzeuge im Oszilloskop-Stil

• Shmoo-Analyse

• Blockdiagramm-Werkzeuge

• Optimierung der Testbedingungen

• Mehrbenutzerzugriff

• Durchführung des Produktionsprogramms

• Sammlung der Testergebnisse

• Diagnose- und Debugging-Tools

Die Softwareversion und die verfügbaren Lizenzen sind wichtige Bestandteile des Wertes eines gebrauchten T2000-Systems.

Vor dem Kauf sollten Käufer prüfen, ob die angebotene Software die installierten Geräte und den beabsichtigten Anwendungsbereich unterstützt.

Repräsentative T2000-Instrumentenmodule

Die folgende Tabelle zeigt beispielhafte T2000-Modulfamilien. Ein einzelnes Testgerät kann nur einige dieser Module enthalten.

Modulnamen und -spezifikationen können je nach Hardwaregeneration und Systemrevision variieren.

Hauptvorteile des Advantest T2000

• Modulare Halbleitertestarchitektur

• Konfigurierbare digitale, analoge, Stromversorgungs- und Bildaufnahmeressourcen

• Unterstützung für SoC- und Mixed-Signal-Geräte

• Testfähigkeit für Energiemanagement und Automobilgeräte

• Testkonfigurationen für CMOS-Bildsensoren

• Kompakte Bauweise und Optionen für die Serienfertigung

• Konfigurationen von luft- und flüssigkeitsgekühlten Systemen

• Digitale Kanäle hoher Dichte

• Parallelprüfung mehrerer Prüflinge

• Gleichzeitige Testausführung

• Entwicklung von Mehrbenutzertests

• Wiederverwendbare Softwareentwicklungsumgebung

• Flexible Testprogramm-Debugging-Tools

• Erweiterbare Instrumentenkapazität

• Geeignet für Entwicklung, Qualifizierung und Produktion

• Kann mit kompatiblen Probern und Handlern integriert werden.

• Breites Sortiment an Instrumentenmodulen

Repräsentative technische Zusammenfassung

Diese Spezifikationen beschreiben die T2000-Plattform und die verfügbaren Modulfamilien. Sie stellen nicht die garantierte Konfiguration jeder einzelnen Maschine dar.

Die Konfiguration des T2000 ist wichtiger als der Modellname.

Zwei Advantest T2000-Systeme können trotz gleicher Plattformbezeichnung deutlich unterschiedliche Testfähigkeiten aufweisen.

Eine Maschine kann für digitale SoC-Tests konfiguriert sein, während eine andere für Energiemanagementgeräte oder CMOS-Bildsensoren gebaut werden kann.

Der Wert und die Eignung eines gebrauchten T2000 hängen stark von folgenden Faktoren ab:

• Mainframe-Typ

• Testkopf-Typ

• Anzahl der verfügbaren Plätze

• Kühlkonfiguration

• Installierte Instrumentenmodule

• Modulmengen

• Modulrevisionen

• Schnittstelle zwischen Leistungsplatine

• Geräteschnittstellenhardware

• Softwareversion

• Softwarelizenzen

• Systemkalibrierungsstatus

• Mitgeliefertes Zubehör

• Ursprüngliche Anwendung

Käufer sollten vor der Bewertung des Geräts eine vollständige Liste der Hardwarekonfiguration anfordern.

Checkliste für den Kauf eines gebrauchten Advantest T2000

Was Sie vor dem Kauf eines gebrauchten T2000 überprüfen sollten

Vor dem Kauf eines gebrauchten oder generalüberholten Advantest T2000 sollten Käufer folgende Informationen überprüfen:

• Herstellungsjahr der Ausrüstung

• Mainframe-Modell

• Testkopfmodell

• Luftgekühlte oder flüssigkeitsgekühlte Konfiguration

• Anzahl der Instrumentenplätze

• Liste der installierten Module

• Modulmengen

• Modulseriennummern und Revisionen

• Maximal verfügbare digitale Kanäle

• Stromversorgungsfähigkeit des Geräts

• Analoge und Mixed-Signal-Ressourcen

• Bildaufnahmefähigkeit

• Schnittstelle zwischen Leistungsplatine

• Inklusive Frachtbörsen

• Inklusive Buchsen oder Sondenschnittstellen

• Systemcontroller-Konfiguration

• Betriebssystemversion

• T2000 Softwareversion

• RDK-Verfügbarkeit

• Softwarelizenzstatus

• Kalibrierungsaufzeichnungen

• Diagnostische Ergebnisse

• Zustand des Kühlsystems

• Eingeschalteter Zustand

• Vorherige Produktionsanwendung

• Wartungshistorie

• Mitgelieferte Kabel und Zubehör

• Beiliegende Handbücher

• Verfügbare Ersatzmodule

• Aktueller Installationsstatus

• Deinstallation scope

• Anforderungen an die Exportverpackung

• Installations- und Inbetriebnahmeanforderungen

Das Gesamtsystem sollte vor dem Kauf anhand des Testplans für das Zielgerät geprüft werden.

Typische Anwendungen

SoC-Produktionstests

Der T2000 kann digitale, analoge und Geräte-Stromversorgungsressourcen kombinieren, um komplexe System-on-Chip-Geräte zu testen.

Mikrocontroller- und FPGA-Tests

Hochdichte digitale Module können Funktions-, Scan-, Speicher- und Schnittstellentests für Mikrocontroller und programmierbare Logikbausteine ​​unterstützen.

PMIC-Test

Geräteleistungs-, parametrische und Hochleistungsmodule können für Spannungs-, Strom-, Sequenzierungs- und Mixed-Signal-Tests von Leistungsmanagement-ICs konfiguriert werden.

Halbleitertests für die Automobilindustrie

Hochspannungs- und Hochstromressourcen ermöglichen es der Plattform, ausgewählte Halbleiteranwendungen im Automobil- und Industriebereich zu unterstützen.

ADC- und DAC-Test

Parametrische Messverfahren, Wellenformerzeugung und Digitalisierungsressourcen können zur Charakterisierung der Wandlerlinearität und von Mixed-Signal-Systemen eingesetzt werden.

CMOS-Bildsensor-Test

Für die Prüfung von CMOS-Bildsensoren können Bildaufnahmemodule, digitale Kanäle, analoge Ressourcen und Hardware zur Bildverarbeitung kombiniert werden.

Konstruktion und Gerätecharakterisierung

Kompakte Konfigurationen können für die Entwicklung von Testprogrammen, das Debuggen von Geräten und deren Charakterisierung verwendet werden.

Halbleiterproduktion in großen Stückzahlen

Erweiterte Systeme unterstützen höhere Kanalanzahlen, Tests an mehreren Standorten und einen optimierten Produktionsdurchsatz.

Warum sollten Sie sich für den Advantest T2000 entscheiden?

Der Advantest T2000 eignet sich für Halbleiterhersteller, die eine konfigurierbare Testplattform benötigen und nicht nur ein Gerät für einen einzigen Zweck.

Dank seiner modularen Architektur können die Instrumentenressourcen je nach Zielgerät ausgewählt werden. Dies reduziert unnötige Hardwareinvestitionen und lässt gleichzeitig Raum für zukünftige Erweiterungen.

Für Entwicklungsteams können die Softwareumgebung und die Mehrbenutzerarchitektur eine schnellere Entwicklung von Testprogrammen unterstützen.

Für Produktionsanlagen können hochdichte Messgeräte, gleichzeitige Tests und die Fähigkeit zur Durchführung an mehreren Standorten dazu beitragen, den Durchsatz zu verbessern und die Kosten pro getestetem Gerät zu senken.

Die Plattform ist besonders wertvoll, wenn die installierte Hardwarekonfiguration genau der beabsichtigten Halbleiteranwendung entspricht.

Häufig gestellte Fragen

Was ist der Advantest T2000?

Das Advantest T2000 ist ein modulares, automatisches Halbleitertestsystem, das zur Entwicklung und Durchführung elektrischer Tests an SoCs, digitalen Bauelementen, Mixed-Signal-ICs, Energiemanagement-Bauelementen und CMOS-Bildsensoren eingesetzt wird.

Ist der T2000 nur ein digitales Testgerät?

Nein. Das System kann digitale, analoge, parametrische, geräteabhängige, Hochleistungs- und Bildaufnahmemodule kombinieren.

Welche Halbleiterbauelemente kann der T2000 testen?

Je nach Konfiguration kann es SoCs, Mikrocontroller, FPGAs, PMICs, Automotive-ICs, Industriegeräte, Mixed-Signal-Komponenten und CMOS-Bildsensoren testen.

Wie viele Kanäle unterstützt der T2000?

Große Konfigurationen können bis zu ca. 8.192 Kanäle bereitstellen. Die tatsächliche Kanalanzahl hängt vom Mainframe, dem Testkopf und den installierten Modulen ab.

Worin besteht der Unterschied zwischen den einzelnen T2000-Systemen?

Die Hauptunterschiede liegen im Mainframe, im Testkopf, in der Art der Kühlung, in den installierten Instrumentenmodulen, in der Kanalanzahl, in den Softwarelizenzen und in der anwendungsspezifischen Schnittstellenhardware.

Unterstützt der T2000 Hochgeschwindigkeits-Digitaltests?

Ja. Verfügbare digitale Module umfassen Konfigurationen, die von Hunderten von Megabit pro Sekunde bis zu etwa 8 Gbit/s arbeiten.

Kann der T2000 Leistungsmanagement-ICs testen?

Ja. Eine geeignete Konfiguration kann Geräte-Stromversorgungen, parametrische Messeinheiten, Hochspannungs-Mixed-Signal-Ressourcen und potentialfreie Hochleistungsmodule umfassen.

Kann der T2000 CMOS-Bildsensoren testen?

Ja. Ein korrekt konfiguriertes System kann Hochgeschwindigkeits-Bildaufnahmemodule und Bildverarbeitungsressourcen für CMOS-Bildsensoranwendungen umfassen.

Unterstützt der T2000 parallele Tests?

Ja. Paralleles Testen mehrerer Prüflinge wird unterstützt, die Anzahl der Teststellen hängt jedoch vom Zielgerät, den Geräteressourcen, dem Schnittstellendesign und dem Testprogramm ab.

Können mehrere Ingenieure ein T2000-System nutzen?

Unterstützte Konfigurationen ermöglichen es bis zu acht Ingenieuren, auf den Tester zuzugreifen und unabhängige Entwicklungs- oder Debugging-Aufgaben durchzuführen.

Ist der T2000 für Wafertests geeignet?

Die Plattform lässt sich mit einem kompatiblen Wafer-Prober und einer Probekartenschnittstelle integrieren. Die benötigte Hardware hängt vom Wafer und der Anwendung ab.

Kann der T2000 für die Endverpackungsprüfung verwendet werden?

Ja. Es kann für Tests auf Gehäuseebene an kompatible Halbleiter-Handler und Geräte-Schnittstellenhardware angeschlossen werden.

Was sollte vor dem Kauf eines gebrauchten T2000 überprüft werden?

Käufer sollten die vollständige Modulliste, die Konfiguration des Testkopfes, das Kühlsystem, die Softwarelizenzen, die Kalibrierungsaufzeichnungen, den Controller, die Schnittstellenhardware, den Betriebszustand und das mitgelieferte Zubehör überprüfen.

Sind alle T2000-Module mit jedem Mainframe kompatibel?

Die Kompatibilität kann von der Modulgeneration, dem Mainframe, dem Testkopf, der Kühlkonfiguration und der Softwareversion abhängen. Die vollständige Systemkonfiguration sollte vor dem Kauf überprüft werden.

Advantest T2000 Geräteinformationen anfordern

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Bitte senden Sie uns Ihren Zielgerätetyp, die erforderliche digitale Geschwindigkeit, die Kanalanzahl, den Leistungsbedarf, die analogen Ressourcen, das Ziel für den Paralleltest und die bevorzugten Systembedingungen.

Um eine geeignete Konfiguration zu ermitteln, geben Sie bitte Folgendes an:

• Ziel-Halbleiterbauelement

• Erforderliche Testanwendung

• Digitale PIN-Zähler

• Maximale digitale Datenrate

• Leistungsbedarf des Geräts

• Anforderungen an analoge Messungen

• Anforderungen an hohe Spannung oder hohen Strom

• Anzahl der parallelen DUT-Standorte

• Wafer-Prober- oder Handler-Modell

• Bevorzugte Modulkonfiguration

• Installationsland

• Erforderlicher Lieferplan

Wir können Ihnen Fotos der verfügbaren Ausrüstung, Listen der installierten Module, Informationen zum Zustand, Konfigurationsdetails und ein Angebot basierend auf Ihren Projektanforderungen zur Verfügung stellen.