Advantest T2000 modulair SoC- en mixed-signal halfgeleidertestsysteem

De Advantest T2000 is een schaalbaar, automatisch testplatform dat is ontworpen voor de ontwikkeling, karakterisering en productietesten van complexe halfgeleidercomponenten.

De T2000 is gebouwd rond een flexibele modulaire architectuur en kan worden geconfigureerd met digitale, apparaatvoeding-, parametrische meet-, gemengde signaal-, hoogvermogen- en beeldopnamefuncties, afhankelijk van de eisen van het te testen apparaat.

Het platform kan een breed scala aan halfgeleidertoepassingen ondersteunen, waaronder SoCs, microcontrollers, FPGA's, IC's voor energiebeheer, automotive-componenten, industriële componenten, mixed-signal-apparaten en CMOS-beeldsensoren.

Dankzij het schaalbare ontwerp kunnen fabrikanten beginnen met een compact systeem voor engineering of kleine series en de tester vervolgens uitbreiden voor systemen met een hoger aantal kanalen en voor productie met meerdere te testen apparaten.

De daadwerkelijke mogelijkheden van een individuele Advantest T2000 hangen af ​​van het basisframe, de testkop, de geïnstalleerde instrumentmodules, softwarelicenties, interfacehardware en toepassingsspecifieke accessoires.

Overzicht van het T2000-platform

Flexibele modulaire testarchitectuur

De T2000 is geen halfgeleidertester met een vaste functionaliteit. De mogelijkheden ervan worden bepaald door de combinatie van modules die in het systeem zijn geïnstalleerd.

Deze modulaire structuur maakt het mogelijk om een ​​tester te configureren op basis van de elektrische eigenschappen van een specifiek halfgeleiderapparaat, in plaats van dat elk systeem dezelfde instrumentele componenten moet bevatten.

Een T2000-configuratie kan combinaties bevatten van:

• Digitale testmodules met hoge dichtheid

• Snelle seriële interfacemodules

• Voedingsmodules voor apparaten

• Parametrische meeteenheden

• Willekeurige golfvormgeneratoren

• Golfvormdigitaliseerders

• Hoogspanningsmodules met gemengde signalen

• Drijvende, krachtige energiebronnen

• Kruispuntmatrixmodules

• CMOS-beeldopnamemodules

• Toepassingsspecifieke interfacehardware

• Testkop- en prestatieprintplaatassemblages

Deze architectuur helpt halfgeleiderfabrikanten een balans te vinden tussen testmogelijkheden, kanaaldichtheid en investeringskosten.

Een ontwikkelingssysteem kan worden geconfigureerd met alleen de resources die nodig zijn voor de karakterisering van het apparaat. Extra modules en testcapaciteit kunnen vervolgens worden toegevoegd voor kwalificatie, proefproductie of massaproductie.

Belangrijkste halfgeleidertesttoepassingen

Testen van SoC's en digitale apparaten

De Advantest T2000 kan worden geconfigureerd voor het testen van sterk geïntegreerde system-on-chip-apparaten die digitale logica, ingebouwd geheugen, analoge circuits, energiebeheerfuncties en snelle interfaces bevatten.

Digitale modules met een hoge dichtheid bieden het benodigde aantal kanalen voor apparaten zoals:

• Microprocessoren

• Microcontrollers

• FPGA's

• Consumenten-SoC's

• Communicatieapparaten

• Interfacecontrollers

• Digitale signaalverwerkingsapparaten

• Geïntegreerde schakelingen met gemengde functies

Beschikbare digitale hulpmiddelen kunnen functies ondersteunen zoals:

• Functionele patroontesten

• Scan testen

• Algoritmische patroongeneratie

• Geheugentesten

• Parametrische meting per pin

• Bronsynchrone testen

• Meerdere timingdomeinen

• Testen van de seriële interface

• Parallelle interface testen

• Testen op meerdere locaties met hoge dichtheid

De juiste digitale module moet worden geselecteerd op basis van de vereiste datasnelheid, het aantal pinnen, de timingnauwkeurigheid en het doel van de testparallelliteit.

Gemengde-signaal- en analoge testen

Veel moderne halfgeleidercomponenten combineren digitale logica met analoge functies. De T2000 kan golfvormgeneratie, digitalisering, spanningsmeting en stroommeting integreren in één testplatform.

Afhankelijk van de geïnstalleerde modules kan het testen met gemengde signalen het volgende omvatten:

• Analoge golfvormgeneratie

• Digitalisering van golfvormen

• Spanningsopwekking

• Huidige generatie

• Spanningsmeting

• Stroommeting

• ADC-lineariteitstesten

• DAC-lineariteitstesten

• Audiofrequentietesten

• Videobandbreedtemeting

• Differentiële spanningsmeting

• Tijdmeting per kanaal

• IDDQ-testen

• Statische en dynamische karakterisering van apparaten

Hierdoor kunnen fabrikanten meerdere functionele blokken van een complexe IC testen zonder het apparaat tussen verschillende testsystemen te hoeven overbrengen.

Energiebeheer en testen van automotive apparaten

De T2000 kan worden uitgerust met een voeding voor apparaten en krachtige mixed-signal modules voor het testen van energiebeheer en halfgeleidercomponenten voor de automobielindustrie.

Mogelijke toepassingen zijn onder meer:

• Communicatie PMIC's

• IC's voor energiebeheer van consumenten

• Automotive ASSPs

• Batterijbeheerapparaten

• Stroomregelapparaten

• Spanningsregelaars

• Stuur-IC's

• Industriële stroomvoorzieningen

• Hoogstroom halfgeleidercomponenten

• Geïntegreerde schakelingen met gemengde spanning

De beschikbare instrumentbronnen kunnen het volgende bieden:

• Meerdere voedingskanalen voor apparaten

• Hoge stroomvoorzieningscapaciteit

• Zwevende spannings- en stroombronnen

• Statische en gepulseerde werking

• Snel schakelen tussen verschillende bereiken

• Spannings- en stroommodulatie

• Gelijktijdige spannings- en stroommeting

• Kelvin-meting

• Parallelle contacttest

• Digitale hoogspanningstesten

• Kruispuntsignaalroutering

De exacte spanning, stroomsterkte en kanaalcapaciteit zijn afhankelijk van de geïnstalleerde moduleset.

CMOS-beeldsensor testen

Een Advantest T2000 met de juiste configuratie kan worden gebruikt voor productietests van CMOS-beeldsensoren.

CMOS-beeldsensoren bevatten vaak beeldsensoren in combinatie met digitale logica, ADC, DAC, besturingscircuits en snelle uitgangsinterfaces. De modulaire architectuur van de T2000 maakt het mogelijk om de benodigde digitale, analoge, voedings- en beeldopnamefuncties in één testsysteem te combineren.

Mogelijke toepassingen van CMOS-beeldsensoren zijn onder andere apparaten die worden gebruikt in:

• Smartphones

• Beveiligingscamera's

• Autocamera's

• Industriële camera's

• Machinevisieapparatuur

• Consumentenproducten voor beeldverwerking

• Camerasystemen met hoge resolutie

Een moderne beeldsensorconfiguratie kan snelle beeldopname voor MIPI-interfaces, dubbel geheugen voor beeldopname en speciale beeldverwerkingsbronnen ondersteunen.

Afhankelijk van de geïnstalleerde configuratie kan het systeem het volgende bieden:

• MIPI D-PHY beeldopname

• MIPI C-PHY beeldopname

• Optionele MIPI A-PHY-ondersteuning

• Snelle seriële beeldgegevensacquisitie

• Dubbel geheugen voor beeldopname

• Speciaal ontwikkelde beeldverwerkingsengines

• Gelijktijdige gegevensregistratie en -verwerking

• Testen van beeldsensoren voor meerdere toepassingen

• Digitale en analoge functietesten

• Productiecapaciteit op grote schaal

De testmogelijkheden van de beeldsensor van een gebruikte T2000 moeten worden geverifieerd aan de hand van de geïnstalleerde opnamemodules, verwerkingshardware, software en interfaceapparatuur.

Schaalbare systeemconfiguratie

Het Advantest T2000-platform kan worden opgeschaald voor verschillende fasen van de ontwikkeling van halfgeleiderproducten.

Compacte configuraties kunnen de initiële investeringskosten voor engineering of productie in kleine series verlagen.

Grotere configuraties kunnen extra testkopsleuven, instrumentkanalen en parallelle testbronnen bieden voor massaproductie.

Parallel testen van meerdere apparaten

Het gelijktijdig testen van meerdere apparaten is een belangrijke methode om de testkosten voor halfgeleiders te verlagen.

De T2000 maakt gebruik van modules met een hoge dichtheid en multisite-besturingstechnologie om parallel testen mogelijk te maken. Het aantal apparaten dat tegelijkertijd kan worden getest, is afhankelijk van:

• Aantal pinnen van het apparaat

• Vereist aantal digitale kanalen

• Voedingsvereisten

• Analoge meetinstrumenten

• Interface-kaartontwerp

• Testkopconfiguratie

• Aantal instrumentmodules

• Testprogrammastructuur

• Handler- of probe-interface

• Apparaatspecifieke testtijd

Parallel testen wordt niet alleen bepaald door het testermodel. De volledige systeemconfiguratie en het testprogramma moeten worden ontworpen rondom het doelapparaat.

Een correct geconfigureerd systeem voor meerdere locaties kan bijdragen aan de verbetering van:

• Productiecapaciteit

• Testergebruik

• Kosten per getest apparaat

• Efficiëntie van de apparatuurvloer

• Productiviteit van de onderzoeker of beoordelaar

• Totale productiecapaciteit

Gelijktijdige testmogelijkheid

De T2000 kan verschillende testfuncties sequentieel of gelijktijdig uitvoeren, afhankelijk van het programma en de beschikbare instrumentbronnen.

Gelijktijdig testen maakt het mogelijk om onafhankelijke apparaatfuncties tegelijkertijd te meten, in plaats van te wachten tot elk testonderdeel is voltooid voordat met het volgende wordt begonnen.

Mogelijke gelijktijdige combinaties kunnen onder meer zijn:

• Digitale functionele test en vermogensmeting

• Analoge meting en digitale patroonuitvoering

• Meerdere vermogensdomeintests

• Beeldregistratie en gegevensverwerking

• Parallelle metingen op meerdere testlocaties

Effectief gelijktijdig testen kan de totale testtijd verkorten, maar vereist wel geschikte instrumentatie en goed ontwikkelde testsoftware.

Ontwikkeling van tests voor meerdere gebruikers

Ondersteunde T2000-configuraties maken gebruik van een multi-site CPU-architectuur waarmee meerdere engineers toegang hebben tot één testsysteem en onafhankelijk van elkaar debugwerkzaamheden kunnen uitvoeren.

Afhankelijk van het systeem en de softwareomgeving kunnen maximaal acht gebruikers worden ondersteund.

Dit kan engineeringteams helpen om de ontwikkelingswerkzaamheden te verdelen op basis van de apparaatfunctie, bijvoorbeeld:

• Digitale test

• Analoge test

• Apparaatvermogen

• Geheugentest

• Interface test

• Beeldsensortest

• Productieoptimalisatie

• Gegevensanalyse

Meerdere engineers kunnen verschillende onderdelen van het testprogramma ontwikkelen of debuggen zonder dat er voor elke persoon een aparte, complete tester nodig is.

Deze aanpak kan helpen de benodigde technische apparatuur te verminderen en de ontwikkeltijd van testprogramma's te verkorten.

T2000 Software- en ontwikkelomgeving

De T2000-softwareomgeving biedt tools voor het maken van testprogramma's, debuggen, simuleren en optimaliseren van de productie.

Voorbeelden van softwarefuncties zijn:

• Omgeving van de Rapid Development Kit

• Ontwikkeling van herbruikbare testcode

• Offline systeemsimulatie

• Patroonbewerking

• Visualisatie van golfvormen

• Logica-analysatorfuncties

• Oscilloscoop-achtige instrumenten

• Shmoo-analyse

• Blokdiagramtools

• Optimalisatie van de testomstandigheden

• Toegang voor meerdere gebruikers

• Uitvoering van het productieprogramma

• verzameling van testresultaten

• Diagnostische en foutopsporingshulpmiddelen

De softwareversie en de beschikbare licenties zijn belangrijke onderdelen van de waarde van een gebruikt T2000-systeem.

Kopers dienen vóór aankoop te controleren of de aangeboden software compatibel is met de geïnstalleerde instrumenten en de beoogde toepassing.

Representatieve T2000-instrumentmodules

De volgende tabel toont representatieve T2000-modulefamilies. Een individuele tester kan slechts enkele van deze modules bevatten.

Modulenamen en specificaties kunnen variëren afhankelijk van de hardwaregeneratie en systeemrevisie.

Belangrijkste voordelen van de Advantest T2000

• Modulaire testarchitectuur voor halfgeleiders

• Configureerbare digitale, analoge, stroom- en beeldopnamebronnen

• Ondersteuning voor SoC- en mixed-signal-apparaten

• Energiebeheer en testmogelijkheden voor automotive apparaten

• Testconfiguraties voor CMOS-beeldsensoren

• Compacte engineering en mogelijkheden voor grootschalige productie

• Luchtgekoelde en vloeistofgekoelde systeemconfiguraties

• Digitale kanalen met hoge dichtheid

• Parallel testen met meerdere apparaten

• Gelijktijdige testuitvoering

• Ontwikkeling van tests voor meerdere gebruikers

• Herbruikbare softwareontwikkelomgeving

• Flexibele tools voor het debuggen van testprogramma's

• Uitbreidbare instrumentcapaciteit

• Geschikt voor ontwikkeling, kwalificatie en productie.

• Kan worden geïntegreerd met compatibele probe- en handler-systemen.

• Ruime keuze aan instrumentmodules

Representatieve technische samenvatting

Deze specificaties beschrijven het T2000-platform en de beschikbare modulefamilies. Ze vertegenwoordigen niet de gegarandeerde configuratie van elke individuele machine.

De configuratie van de T2000 is belangrijker dan de modelnaam.

Twee Advantest T2000-systemen kunnen aanzienlijk verschillende testmogelijkheden hebben, ook al gebruiken ze dezelfde platformnaam.

De ene machine kan geconfigureerd zijn voor het testen van digitale SoC's, terwijl een andere gebouwd kan zijn voor energiebeheerapparaten of CMOS-beeldsensoren.

De waarde en geschiktheid van een gebruikte T2000 hangen sterk af van:

• Mainframe-type

• Testkoptype

• Aantal beschikbare plaatsen

• Koelconfiguratie

• Geïnstalleerde instrumentmodules

• Modulehoeveelheden

• Moduleherzieningen

• Performance-board interface

• Apparaatinterface hardware

• Softwareversie

• Softwarelicenties

• Systeemkalibratiestatus

• Meegeleverde accessoires

• Originele aanvraag

Kopers dienen een volledige lijst met hardwareconfiguraties op te vragen voordat ze de machine beoordelen.

Checklist voor de aanschaf van een gebruikte Advantest T2000

Waarop te letten voordat je een gebruikte T2000 koopt?

Voordat u een gebruikte of gereviseerde Advantest T2000 aanschaft, dient u de volgende informatie te controleren:

• Productiejaar van de apparatuur

• Mainframe-model

• Testkopmodel

• Luchtgekoelde of vloeistofgekoelde configuratie

• Aantal instrumentvakken

• Lijst met geïnstalleerde modules

• Modulehoeveelheden

• Module serienummers en revisies

• Maximaal aantal beschikbare digitale kanalen

• Voedingscapaciteit van het apparaat

• Analoge en gemengde signaalbronnen

• Beeldopnamemogelijkheid

• Performance-board interface

• Inclusief laadborden

• Meegeleverde aansluitingen of sonde-interfaces

• Systeemcontrollerconfiguratie

• Besturingssysteemversie

• T2000 softwareversie

• RDK-beschikbaarheid

• Softwarelicentiestatus

• Kalibratiegegevens

• Diagnostische resultaten

• Toestand van het koelsysteem

• Inschakelconditie

• Eerdere productietoepassing

• Onderhoudshistorie

• Meegeleverde kabels en accessoires

• Meegeleverde handleidingen

• Beschikbare reservemodules

• Huidige installatiestatus

• Verwijder scope

• Eisen voor exportverpakking

• Installatie- en opstartvereisten

Het complete systeem moet vóór de aanschaf worden geëvalueerd aan de hand van het testplan voor het beoogde apparaat.

Typische toepassingen

SoC-productietesten

De T2000 kan digitale, analoge en apparaatvoedingsbronnen combineren voor het testen van complexe system-on-chip-apparaten.

Testen van microcontrollers en FPGA's

Digitale modules met een hoge dichtheid kunnen functionele, scan-, geheugen- en interfacetests ondersteunen voor microcontrollers en programmeerbare logische apparaten.

PMIC-testen

De modules voor apparaatvermogen, parametrische metingen en hoogvermogenmetingen kunnen worden geconfigureerd voor spannings-, stroom-, sequentie- en gemengde signaaltesten van IC's voor energiebeheer.

Testen van halfgeleiders voor de automobielindustrie

Dankzij de hoogspannings- en hoogstroombronnen kan het platform bepaalde halfgeleidertoepassingen in de automobielindustrie en de industriële sector ondersteunen.

ADC- en DAC-testen

Parametrische metingen, golfvormgeneratie en digitaliseringsmogelijkheden kunnen worden gebruikt voor het bepalen van de lineariteit van de omvormer en de karakterisering van gemengde signalen.

CMOS-beeldsensor testen

Voor het testen van CMOS-beeldsensoren kunnen beeldopnamemodules, digitale kanalen, analoge bronnen en beeldverwerkingshardware worden gecombineerd.

Technische en apparaatkarakterisering

Compacte configuraties kunnen worden gebruikt voor het ontwikkelen van testprogramma's, het debuggen van apparaten en karakterisering.

grootschalige halfgeleiderproductie

Uitgebreide systemen kunnen een groter aantal kanalen, testen op meerdere locaties en een geoptimaliseerde productiedoorvoer ondersteunen.

Waarom kiezen voor de Advantest T2000?

De Advantest T2000 is geschikt voor halfgeleiderfabrikanten die een configureerbaar testplatform nodig hebben in plaats van een tester voor één specifiek doel.

De modulaire architectuur maakt het mogelijk om instrumentcomponenten te selecteren op basis van het beoogde apparaat. Dit kan onnodige investeringen in hardware verminderen en biedt tegelijkertijd ruimte voor toekomstige uitbreiding.

Voor engineeringteams kunnen de softwareomgeving en de architectuur voor meerdere gebruikers de ontwikkeling van testprogramma's versnellen.

Voor productiefaciliteiten kunnen instrumenten met een hoge dichtheid, gelijktijdige testen en de mogelijkheid om op meerdere locaties te testen, de doorvoer verbeteren en de kosten per getest apparaat verlagen.

Het platform is met name waardevol wanneer de geïnstalleerde hardwareconfiguratie nauw aansluit op de beoogde halfgeleidertoepassing.

Veelgestelde vragen

Wat is de Advantest T2000?

De Advantest T2000 is een modulair, automatisch testsysteem voor halfgeleiders, dat gebruikt wordt voor het ontwikkelen en uitvoeren van elektrische tests op SoCs, digitale componenten, mixed-signal IC's, energiebeheercomponenten en CMOS-beeldsensoren.

Is de T2000 alleen een digitale tester?

Nee. Het systeem kan digitale, analoge, parametrische, apparaatvoeding-, hoogvermogen- en beeldopnamemodules combineren.

Welke halfgeleidercomponenten kan de T2000 testen?

Afhankelijk van de configuratie kan het SoCs, microcontrollers, FPGA's, PMIC's, automotive IC's, industriële apparaten, mixed-signal componenten en CMOS-beeldsensoren testen.

Hoeveel kanalen ondersteunt de T2000?

Grote configuraties kunnen tot ongeveer 8.192 kanalen bieden. Het werkelijke aantal kanalen is afhankelijk van de mainframe, de testkop en de geïnstalleerde modules.

Wat is het verschil tussen het ene T2000-systeem en het andere?

De belangrijkste verschillen zitten in de mainframe, de testkop, het koeltype, de geïnstalleerde instrumentmodules, het aantal kanalen, de softwarelicenties en de applicatiespecifieke interfacehardware.

Ondersteunt de T2000 snelle digitale tests?

Ja. De beschikbare digitale modules omvatten configuraties die werken van honderden megabits per seconde tot ongeveer 8 Gbps.

Kan de T2000 IC's voor energiebeheer testen?

Ja. Een geschikte configuratie kan bestaan ​​uit voedingen voor de apparaten, parametrische meeteenheden, hoogspanningsbronnen voor gemengde signalen en zwevende modules met hoog vermogen.

Kan de T2000 CMOS-beeldsensoren testen?

Ja. Een correct geconfigureerd systeem kan modules voor snelle beeldopname en beeldverwerking bevatten voor toepassingen met CMOS-beeldsensoren.

Ondersteunt de T2000 parallel testen?

Ja. Parallel testen met meerdere apparaten wordt ondersteund, maar het aantal testlocaties is afhankelijk van het doelapparaat, de beschikbare instrumentbronnen, het interfaceontwerp en het testprogramma.

Kunnen meerdere technici één T2000-systeem gebruiken?

De ondersteunde configuraties bieden tot wel acht engineers toegang tot de tester, waardoor ze zelfstandig ontwikkel- of debugtaken kunnen uitvoeren.

Is de T2000 geschikt voor wafertesten?

Het platform kan worden geïntegreerd met een compatibele waferprober en probe-card interface. De benodigde hardware is afhankelijk van de wafer en de toepassing.

Kan de T2000 gebruikt worden voor de uiteindelijke verpakkingstest?

Ja. Het kan worden aangesloten op compatibele halfgeleiderhandlers en apparaatinterfacehardware voor productietests op pakketniveau.

Waar moet je op letten voordat je een gebruikte T2000 koopt?

Kopers dienen de volledige modulelijst, de configuratie van de testkop, het koelsysteem, de softwarelicenties, de kalibratiegegevens, de controller, de interfacehardware, de operationele staat en de meegeleverde accessoires te controleren.

Zijn alle T2000-modules compatibel met alle mainframes?

De compatibiliteit kan afhangen van de modulegeneratie, het moederbord, de testkop, de koelconfiguratie en de softwareversie. Controleer de volledige systeemconfiguratie vóór aankoop.

Vraag informatie aan over de Advantest T2000-apparatuur.

Bent u op zoek naar een Advantest T2000 halfgeleidertestsysteem?

Stuur ons het gewenste apparaattype, de vereiste digitale snelheid, het aantal kanalen, de stroomvereisten, de analoge resources, het parallelle testdoel en de gewenste systeemcondities.

Om een ​​geschikte configuratie te bepalen, verzoeken wij u het volgende te verstrekken:

• Doelwit halfgeleiderapparaat

• Vereiste testapplicatie

• Digitale pin-telling

• Maximale digitale datasnelheid

• Stroomvereisten van het apparaat

• Analoge meetvereisten

• Hoge spanning- of hoge stroomvereisten

• Aantal parallelle DUT-locaties

• Wafer-sonde- of handler-model

• Voorkeursmoduleconfiguratie

• Installatieland

• Vereist leveringsschema

Wij kunnen u foto's van de beschikbare apparatuur, lijsten met geïnstalleerde modules, informatie over de staat, configuratiegegevens en een offerte op basis van uw projectvereisten verstrekken.