Advantest T2000 Modulares SoC- und Mixed-Signal-Halbleiter-Testsystem
Advantest T2000 modulares Halbleitertestsystem für SoC, digitale, Mixed-Signal-, PMIC- und Automobil-Systeme
Elektrischer Test für Halbleiter
Halbleiter-ATE-Systeme für IC-Tests
Automatische Testgeräte für die Halbleiterindustrie (ATE) legen programmierte elektrische Signale an einen integrierten Schaltkreis (IC) an, messen die Reaktion und ermitteln, ob das Bauteil die Spezifikationen erfüllt. Durchsuchen Sie die verfügbaren ATE-Systeme für SoC, digitale Schaltungen, Mixed-Signal-Schaltungen, PMICs und verwandte Anwendungen und wählen Sie die passende Testerkonfiguration für Ihr Bauteil, Ihre Testphase und Ihr Produktionsziel.
Aktuelle Ausrüstung
Verfügbare Halbleiter-ATE-Systeme
Prüfen Sie die aktuelle Geräteausstattung und bestätigen Sie anschließend die installierten Module, den Testkopf, die Software, den Kalibrierungsstatus und die Schnittstellenhardware des angebotenen Systems.
Zwei Tester mit demselben Plattformnamen können sehr unterschiedliche Fähigkeiten aufweisen. Die vollständige Konfigurationsliste ist wichtiger als der Modellname allein.
Anwendungsübereinstimmung
Beginnen Sie mit den Gerätefunktionen, die Sie testen müssen.
Ein ATE-System wird nicht allein anhand der Pin-Anzahl oder der Marke ausgewählt. Die benötigten Testerressourcen ergeben sich aus den elektrischen Funktionen innerhalb des Ziel-ICs.
Digitale Geschwindigkeit, analoge Genauigkeit, Geräteleistung, Hochstromfähigkeit, Bildaufnahme und HF-Ressourcen Die richtige Plattform- und Modulkombination kann sich ändern.
Überprüfung einer GerätetestanforderungGerätebereichTypische TesterressourcenHauptfrage beim Kauf
DigitalSoC, MCU & FPGA
Hochdichte digitale Kanäle, Scan, Speicher, Timing und parametrische Messung pro Pin.
Stimmen Datenrate, Pin-Anzahl und Musterressourcen mit dem Gerät überein?
LeistungPMIC & Automotive IC
Geräte-Stromversorgungen, Spannungs-/Strommessung, Hochspannungs- oder Hochstromquellen.
Können die installierten Module die erforderlichen Betriebsbereiche bereitstellen und messen?
AnalogMixed-Signal, ADC & DAC
Wellenformerzeugung, Digitalisierung, PMU, Zeitmessung und rauscharme analoge Messung.
Erfüllt das Testgerät die Zielvorgaben hinsichtlich Bandbreite, Genauigkeit und Dynamikbereich?
BildgebungCMOS-Bildsensoren
Bildaufnahme, Hochgeschwindigkeitsschnittstellen, digitale Steuerung, analoge Mess- und Verarbeitungsressourcen.
Sind die Aufnahmemodule, die Software und die optische Schnittstelle im Lieferumfang enthalten?
SpezialisiertHF-, Speicher- oder diskrete Leistungselektronik
Anwendungsspezifische HF-, Speicher- oder Leistungsmessgeräte und dedizierte Schnittstellenhardware.
Ist ein allgemeiner SoC-Tester ausreichend oder wird eine spezialisierte Plattform benötigt?
Vollständige Testzelle
Der Tester ist nur ein Teil des ATE-Systems.
Eine erfolgreiche Wafer-Sortierung oder Endprüfung hängt vom vollständigen Signal- und mechanischen Pfad ab. Tester, Schnittstellenhardware, Prober bzw. Handler, Software und Produktionsdatenfluss müssen als Einheit funktionieren.
Sonde oder Griff
Positioniert den Wafer-Die oder das verpackte Gerät, steuert den Kontakt und kann eine Temperaturkonditionierung vornehmen.
DUT-Schnittstelle
Prüfkarte, Lastplatine, Buchse, Federkontaktbaugruppe und Kabel übertragen Stimuli und Messwerte.
Prüfkopf und Instrumente
Digitale, analoge, Leistungs- und parametrische Module stellen die vom Prüfling benötigten elektrischen Ressourcen bereit.
Testprogramm
Muster, Grenzwerte, Zeitvorgaben, Messsequenzen und Binning-Logik setzen den Gerätetestplan um.
Daten- und Fabrikintegration
Die Ergebnisse fließen in Ertragsanalyse, Rückverfolgbarkeit, MES und Produktionssteuerungssysteme ein.
Der Kauf eines ATE-Großrechners ohne die richtige Schnittstelle und Software kann dazu führen, dass das System für das Zielprodukt unbrauchbar ist. Prüfen Sie die vollständige Testzelle, bevor Sie Angebote vergleichen.
Lösungen für Test und Handhabung entdecken →
Testphase
Wird der ATE beim Wafer-Sortieren oder beim abschließenden Test ausgeführt?
Der elektrische Tester kann beide Phasen unterstützen, jedoch unterscheiden sich die mechanische Schnittstelle, die Kontakthardware, die Parallelität und der Produktionsablauf.
ATE ist mit einer Probestation oder einem Wafer-Prober verbunden.
Elektrische Tests werden direkt am Chip vor dem Vereinzeln durchgeführt. Die Zelle benötigt die korrekte Prüfkarte, den richtigen Wafer-Map-Flow, die passenden Chuck-Bedingungen und die richtige Prüferschnittstelle.
- Prüfkartenformat und Pin-Anzahl
- Wafergröße und Temperaturanforderungen
- Known-good-Die- und Wafer-Map-Workflow
- Mehrpunkt-Sondierung und Kontaktausbeute
ATE ist mit einem Halbleiter-Testhandler verbunden
Die verpackten ICs werden in Sockel eingesetzt, elektrisch geprüft und nach Ergebnis sortiert. Die Zelle benötigt einen passenden Handler, HIFIX, Schütz, eine Lastplatine und eine entsprechende Temperatureinstellung.
- Gehäuse- und Sockelkompatibilität
- Handler-Andock- und Ladetafelformat
- Umgebungs-, heiße oder kalte Testbedingungen
- Behälterausgabe und Produktionsrückverfolgbarkeit
Kosten der TesthebelKinderbett
Testzeit
Hoch
Effizienz an mehreren Standorten
Hoch
Kontakt Ausbeute
Kern
Auslastung & Umstellung
Kern
Die Balken veranschaulichen die Wichtigkeit von Entscheidungen, nicht die gemessene Leistung. Die tatsächlichen Testkosten müssen anhand Ihrer Geräte-, Programm-, Schnittstellen- und Produktionsdaten berechnet werden.
Produktionsökonomie
Geringere Testkosten, nicht nur ein niedrigerer Preis für das Testgerät
ATE-Käufer vergleichen oft zuerst den Kaufpreis, aber die Produktionskosten werden in der Regel bestimmt durch Testzeit, Anzahl paralleler Standorte, Wiederholungsrate, Kontaktstabilität und Systemauslastung.
Ein kostengünstigeres Testsystem kann teuer werden, wenn es nicht über die für das geplante Multi-Site-System erforderlichen Kanäle, Instrumente oder Schnittstellen verfügt. Eine überdimensionierte Konfiguration kann zudem zu ungenutztem Kapital führen.
Das praktische Ziel ist eine Systemkonfiguration, die die erforderliche Abdeckung und den erforderlichen Durchsatz bietet, ohne für Instrumente zu bezahlen, die das Gerät nicht verwendet.
Verwendete ATE-Verifizierung
Fordern Sie einen Konfigurationspass an, bevor Sie ein gebrauchtes ATE-System evaluieren.
Ein gebrauchter Halbleitertester kann nicht allein anhand des Plattformnamens bewertet werden. Fordern Sie eine vollständige Liste der Hardware, Software und Schnittstellen des jeweiligen Geräts an.
SystemidentitätDer Modellname ist nur der Ausgangspunkt.
Der Wert eines gebrauchten ATE-Systems hängt von den installierten Ressourcen und davon ab, ob diese zum Zieltestprogramm passen.
VERIFIZIEREN
VOR
ZITAT
VOR
ZITAT
HardwareHauptrechner, Testkopf und Kühlung
Bitte Rahmentyp, Anzahl der Steckplätze, Testkopfmodell, Luft- oder Flüssigkeitskühlung und Leistungsbedarf prüfen.
InstrumentierungModule, Mengen & Überarbeitungen
Fordern Sie genaue Listen von digitalen, analogen, PMU-, DPS-, Hochleistungs- oder Bildaufnahmemodulen an.
SoftwareVersion, Lizenzen & Entwicklungswerkzeuge
Prüfen Sie, ob die Steuerung, das Betriebssystem und die Software die installierten Instrumente unterstützen.
SchnittstellePlatinen, Sockel, Sondenschnittstellen und Kabel
Ermitteln Sie, was im Lieferumfang enthalten ist und was für das zu untersuchende Produkt (DUT) separat entworfen oder beschafft werden muss.
ZustandKalibrierung, Diagnose & Servicehistorie
Überprüfen Sie Kalibrierungsdaten, Einschaltstatus, Diagnoseprotokolle und vorherige Anwendungen.
LieferungDeinstallation, Packing & Startup Scope
Klärung der Anforderungen an die Unterstützung des Testkopfes, die Exportverpackung, die Montage, die Installation und die Kalibrierung nach der Auslieferung.
Setzen Sie die Überprüfung der Testzelle fort.
Zugehörige Ausrüstung und Testrichtlinien für Halbleiter
Nutzen Sie diese Links, wenn die Anforderung über den Tester selbst hinausgeht oder wenn die Testphase noch definiert werden muss.
Prüfstationen, Handler und ATE im vollständigen IC-Testablauf
Überprüfen Sie, wie Wafer-Probing, Endprüfung, Handhabung und elektrische Testressourcen vom CP-Test bis zur Sortierung der verpackten Bauelemente zusammenarbeiten.
Lesen Sie den Leitfaden für Halbleitertests →
Käuferfragen
Häufig gestellte Fragen zu Halbleiter-ATE-Systemen
Antworten auf häufig gestellte Fragen zu automatischen Testgeräten, Testzellenintegration und Gebrauchtsystemkonfiguration.
Was testet ein Halbleiter-ATE-System?
Es wendet programmierte digitale, analoge, Leistungs- oder parametrische Stimuli auf einen integrierten Schaltkreis an, misst die Reaktion und vergleicht die Ergebnisse mit Testgrenzen. Welche Geräte genau getestet werden können, hängt von den installierten Messgeräten, der Software und der Schnittstelle zum Prüfling ab.
Worin besteht der Unterschied zwischen ATE und einem Test-Handler?
Das ATE erzeugt und misst elektrische Signale. Der Testhandler bewegt verpackte Bauteile, regelt deren Testtemperatur, platziert sie im Schütz und sortiert sie entsprechend dem vom Tester gelieferten Ergebnis.
Kann ein ATE-System sowohl die Wafer-Sortierung als auch den Endtest unterstützen?
Prinzipiell ja. Ein geeigneter Tester kann für CP-Tests an einen Wafer-Prober oder für Endtests an einen Handler angeschlossen werden, aber jede Stufe erfordert unterschiedliche Schnittstellenhardware, Kontaktlösungen, Softwareabläufe und Produktionsintegration.
Wie wähle ich zwischen einem SoC-Tester und einem spezialisierten Tester?
Beginnen wir mit den Gerätefunktionen. Allgemeine SoC-Plattformen können digitale, analoge und Leistungsressourcen kombinieren, während Speicher-, HF-/mmWave- oder Hochleistungsanwendungen möglicherweise spezielle Instrumente oder eine dedizierte Plattform erfordern.
Warum haben zwei gebrauchte ATE-Systeme desselben Modells unterschiedliche Preise?
Ihre Mainframes, Testköpfe, Modulanzahlen, Revisionen, Softwarelizenzen, Kalibrierungsstatus, Schnittstellenhardware und das mitgelieferte Zubehör können sich stark unterscheiden. Eine vollständige Konfigurationsliste ist erforderlich, um die Werte vergleichen zu können.
Was muss ich für ein Angebot für ein ATE-System einreichen?
Senden Sie das Zielgerät oder die Anwendung, die bevorzugte Plattform oder das bevorzugte Modell, die Testphase, die benötigten digitalen oder analogen Ressourcen, die erwartete Anzahl der Standorte, aktuelle Schnittstelleninformationen, den bevorzugten Maschinenzustand, das Ziel und den Zeitplan.
Beginnen Sie mit dem Gerät, dem Testprogramm oder dem Ziel-ATE-Modell.
Teilen Sie uns bitte die Halbleiteranwendung, die benötigten Testressourcen, die Wafer-Sortierung oder die Endtestphase, die bevorzugte Marke oder das bevorzugte Modell, den Zustand und den Bestimmungsort mit. Wir prüfen dann die verfügbare Systemkonfiguration und die fehlenden Komponenten der Testzelle.