Advantest T2000 — это масштабируемая автоматизированная платформа для тестирования, предназначенная для разработки, характеризации и производственного тестирования сложных полупроводниковых устройств.
Созданный на основе гибкой модульной архитектуры, T2000 может быть сконфигурирован с цифровыми ресурсами, источниками питания устройств, параметрическими измерительными функциями, смешанными сигнальными ресурсами, высокомощными ресурсами и ресурсами для захвата изображений в соответствии с требованиями тестируемого устройства.
Платформа поддерживает широкий спектр полупроводниковых приложений, включая системы на кристалле (SoC), микроконтроллеры, ПЛИС (FPGA), микросхемы управления питанием, автомобильные устройства, промышленные компоненты, устройства смешанного сигнала и КМОП-датчики изображения.
Благодаря масштабируемой конструкции производители могут начать с компактной инженерной или мелкосерийной системы и расширить тестер для увеличения количества каналов и удовлетворения требований к производству нескольких тестируемых устройств.
Фактические возможности отдельного прибора Advantest T2000 зависят от его основного блока, измерительной головки, установленных модулей прибора, лицензий на программное обеспечение, интерфейсного оборудования и специализированных принадлежностей.
Обзор платформы T2000
| Элемент | Представительные возможности |
|---|---|
| Тип оборудования | Модульное автоматическое оборудование для тестирования полупроводников |
| Основные области применения | Тестирование SoC, цифровых, смешанных аналогово-цифровых, PMIC, автомобильных, промышленных и CMOS-датчиков изображения. |
| Архитектура системы | Конфигурируемая модульная платформа |
| Масштабируемость мэйнфрейма | От компактных конфигураций с воздушным охлаждением до крупных систем с жидкостным охлаждением. |
| Вместимость испытательной головки | Примерно от 13 до 52 слотов для приборов, в зависимости от конфигурации. |
| Максимальная пропускная способность канала | До приблизительно 8192 каналов |
| Цифровое выступление | Доступны модули со скоростью от 500 Мбит/с до 8 Гбит/с. |
| Параллельное тестирование | Возможность работы с несколькими тестируемыми устройствами (Multi-DUT) в зависимости от конфигурации устройства и модуля. |
| среда разработки | Комплект для быстрой разработки, симулятор и инструменты отладки |
| Многопользовательская разработка | До восьми пользователей в поддерживаемых конфигурациях. |
| Охлаждение | Воздушное или жидкостное охлаждение, в зависимости от системы. |
| Интеграция производства | Интеграция зондирующего устройства, обработчика и интерфейса фабрики зависит от конфигурации. |
Гибкая модульная архитектура тестирования
Прибор T2000 не является полупроводниковым тестером с фиксированными функциями. Его возможности определяются комбинацией модулей, установленных в системе.
Такая модульная структура позволяет настраивать тестер в соответствии с электрическими характеристиками конкретного полупроводникового прибора, вместо того чтобы требовать от каждой системы использования одних и тех же измерительных ресурсов.
Конфигурация T2000 может содержать следующие комбинации:
Модули цифрового тестирования высокой плотности
Модули высокоскоростного последовательного интерфейса
модули питания устройств
Параметрические измерительные блоки
Генераторы произвольных сигналов
Оцифровщики волновых форм
Высоковольтные модули смешанных сигналов
Плавучие мощные ресурсы
Модули перекрестной матрицы
Модули захвата изображения CMOS
Аппаратное обеспечение интерфейса, специфичное для конкретного приложения
Сборки тестовых головок и плат управления производительностью
Эта архитектура помогает производителям полупроводников сбалансировать возможности тестирования, плотность каналов и капиталовложения.
Система разработки может быть сконфигурирована только с ресурсами, необходимыми для характеризации устройств. Дополнительные модули и испытательные мощности могут быть добавлены для квалификации, опытного производства или крупномасштабного выпуска.
Основные области применения тестирования полупроводниковых устройств
| Категория устройства | Типичные требования к тестированию |
|---|---|
| SoC-устройства | Цифровое функциональное тестирование, сканирование, память, энергопотребление и измерение смешанных сигналов. |
| Микроконтроллеры | Цифровые входы/выходы, встроенная память, аналоговые периферийные устройства и питание устройств. |
| FPGA-устройства | Тестирование цифровых каналов высокой плотности, шаблонов сканирования и интерфейсов. |
| PMIC-устройства | Измерение напряжения, тока, последовательности подачи питания и параметрическое измерение. |
| Автомобильные интегральные схемы | Испытания высоковольтных, сильноточных и смешанных сигналов |
| Промышленные устройства | Функциональная, силовая, аналоговая и интерфейсная верификация. |
| АЦП и ЦАП устройства | Параметры постоянного тока, линейность, генерация и оцифровка сигналов. |
| Микросхемы аудио и видео | Аналоговые измерения с высоким динамическим диапазоном |
| Высокоскоростные интерфейсные микросхемы | Тестирование последовательных и параллельных интерфейсов |
| CMOS-датчики изображения | Захват изображений, обработка изображений, цифровые и аналоговые измерения. |
| Потребительские полупроводниковые устройства | Функциональное тестирование цифровых, силовых, аналоговых и многодоменных устройств. |
Тестирование SoC и цифровых устройств
Прибор Advantest T2000 может быть сконфигурирован для тестирования высокоинтегрированных систем на кристалле, содержащих цифровую логику, встроенную память, аналоговые схемы, функции управления питанием и высокоскоростные интерфейсы.
Цифровые модули высокой плотности обеспечивают необходимое количество каналов для таких устройств, как:
Микропроцессоры
Микроконтроллеры
ПЛИС
Потребительские SoC
Коммуникационные устройства
Контроллеры интерфейса
устройства цифровой обработки сигналов
Интегральные схемы смешанного назначения
Доступные цифровые ресурсы могут поддерживать такие функции, как:
Функциональное тестирование шаблонов
Сканирование тестирования
Алгоритмическая генерация шаблонов
тестирование памяти
Параметрическое измерение для каждого контакта
Тестирование синхронного источника
Множественные временные домены
Тестирование последовательного интерфейса
Параллельное тестирование интерфейса
Высокоплотное многосайтовое тестирование
Необходимо выбрать подходящий цифровой модуль в соответствии с требуемой скоростью передачи данных, количеством выводов, точностью синхронизации и целевым уровнем параллельного тестирования.
Тестирование смешанных сигналов и аналоговых схем
Многие современные полупроводниковые приборы сочетают цифровую логику с аналоговыми функциями. Прибор T2000 позволяет интегрировать генерацию сигналов, оцифровку, измерение напряжения и тока на одной испытательной платформе.
В зависимости от установленных модулей, тестирование смешанных сигналов может включать в себя:
Генерация аналоговых сигналов
Оцифровка волновой формы
Генерация напряжения
Текущее поколение
Измерение напряжения
Измерение тока
Тестирование линейности АЦП
Тестирование линейности ЦАП
Тестирование звуковых частот
Измерение пропускной способности видеосигнала
Измерение дифференциального напряжения
Измерение временных параметров для каждого канала
Тестирование IDDQ
Статическая и динамическая характеризация устройств
Это позволяет производителям тестировать несколько функциональных блоков сложной интегральной схемы без переноса устройства между отдельными тестовыми системами.
Тестирование систем управления питанием и автомобильных устройств
Прибор T2000 может быть оснащен источниками питания для устройств и мощными модулями смешанных сигналов для тестирования систем управления питанием и автомобильных полупроводниковых приборов.
Возможные области применения включают:
Коммуникационные PMIC
Микросхемы управления питанием для потребительских товаров
Автомобильные ASSP
Устройства управления батареями
Устройства управления мощностью
Регуляторы напряжения
Микросхемы драйверов
Промышленные силовые устройства
Высокотоковые полупроводниковые компоненты
Интегральные схемы смешанного напряжения
Имеющиеся инструментальные ресурсы могут обеспечить:
Несколько каналов питания устройств
Возможность питания от источника сильного тока
Источники плавающего напряжения и тока
Статический и импульсный режимы работы
Быстрое переключение диапазона
Модуляция напряжения и тока
Одновременное измерение напряжения и тока.
Измерение Кельвина
Параллельное контактное тестирование
Высоковольтные цифровые испытания
Маршрутизация перекрестных сигналов
Точное напряжение, ток и пропускная способность каналов зависят от установленного комплекта модулей.
Тестирование CMOS-датчиков изображения
Для производственного тестирования CMOS-датчиков изображения можно использовать соответствующим образом сконфигурированный прибор Advantest T2000.
CMOS-датчики изображения часто содержат матрицы датчиков изображения, а также цифровую логику, АЦП, ЦАП, схемы управления и высокоскоростные выходные интерфейсы. Модульная архитектура T2000 позволяет объединить необходимые цифровые, аналоговые, силовые и функции захвата изображения в одной тестовой системе.
Потенциальные области применения CMOS-датчиков изображения включают устройства, используемые в:
Смартфоны
Камеры видеонаблюдения
Автомобильные камеры
Промышленные камеры
Оборудование для машинного зрения
Потребительские устройства для обработки изображений
Системы камер высокого разрешения
Современная конфигурация датчика изображения может поддерживать высокоскоростной захват изображений через интерфейсы MIPI, двухканальную память для захвата изображений и выделенные ресурсы для обработки изображений.
В зависимости от установленной конфигурации система может предоставлять следующие возможности:
Захват изображения MIPI D-PHY
Захват изображения MIPI C-PHY
Дополнительная поддержка MIPI A-PHY
Высокоскоростной последовательный сбор изображений и данных
Двухканальная память для захвата изображений
Специализированные механизмы обработки изображений
Одновременный сбор и обработка данных.
Тестирование датчиков изображения с использованием нескольких тестируемых устройств (DUT)
Функциональное тестирование цифровых и аналоговых устройств
Возможность крупномасштабного производства
Возможности тестирования датчика изображения у бывшей в употреблении камеры T2000 необходимо проверить на основе установленных модулей захвата, аппаратного и программного обеспечения, а также интерфейсного оборудования.
Масштабируемая конфигурация системы
Платформа Advantest T2000 может масштабироваться для различных этапов разработки полупроводниковых изделий.
| Этап производства | Типичная цель системы | Вопросы конфигурации |
|---|---|---|
| инженерные разработки | Создание первоначальной тестовой программы и характеризация устройства. | Компактный мэйнфрейм и основные модули приборов. |
| квалификация устройства | Расширенное измерение охвата и тестирование надежности. | Дополнительные цифровые, аналоговые, силовые или параметрические ресурсы |
| Пилотное производство | Повторяемое тестирование с умеренным параллелизмом. | Производственный интерфейс и возможности работы на нескольких площадках. |
| Среднеобъемное производство | Повышенная производительность и снижение стоимости тестирования. | Повышенная плотность каналов и расширенные возможности тестовых головок. |
| Крупномасштабное производство | Максимальная параллельность и эффективность производства | Большой мэйнфрейм, множество модулей и оптимизированный интерфейс тестируемого устройства. |
| Поддержка семейства продуктов | Тестирование нескольких смежных типов устройств. | Многоразовое программное обеспечение и гибкое распределение модулей. |
Компактные конфигурации могут помочь снизить первоначальные инвестиции в проектирование или мелкосерийное производство.
Более крупные конфигурации могут обеспечить дополнительные слоты для тестовых головок, каналы для приборов и параллельные ресурсы тестирования для массового производства.
Параллельное тестирование нескольких тестируемых устройств
Одновременное тестирование нескольких устройств является важным методом снижения затрат на тестирование полупроводниковых изделий.
В системе T2000 используются модули высокой плотности и технология управления несколькими площадками для поддержки параллельного тестирования. Количество устройств, которые можно тестировать одновременно, зависит от:
количество контактов устройства
Требуемое количество цифровых каналов
Требования к источнику питания
Ресурсы для аналоговых измерений
Проектирование интерфейсной платы
Конфигурация испытательной головки
количество модулей прибора
Структура тестовой программы
Интерфейс обработчика или зондирующего устройства
Время тестирования, специфичное для устройства
Возможность параллельного тестирования определяется не только моделью тестера. Полная конфигурация системы и программа тестирования должны быть разработаны с учетом целевого устройства.
Правильно настроенная многосайтовая система может помочь улучшить:
Производственная производительность
Использование тестировщиков
Стоимость одного протестированного устройства
Эффективность производственного цеха
Производительность обработчика или зондирующего
Общая производственная мощность
Возможность параллельного тестирования
Прибор T2000 может выполнять различные тестовые функции последовательно или одновременно, в зависимости от программы и ресурсов прибора.
Параллельное тестирование позволяет измерять независимые функции устройства одновременно, вместо того чтобы ждать завершения каждого тестируемого элемента перед началом следующего.
Возможные сочетания возможных вариантов могут включать:
Цифровое функциональное тестирование и измерение мощности
Аналоговые измерения и цифровое выполнение шаблонов
Многократные тесты в области мощности
Захват изображений и обработка данных
Параллельные измерения на нескольких участках исследуемого устройства.
Эффективное параллельное тестирование может сократить общее время тестирования, но для этого требуются соответствующие инструментальные ресурсы и правильно разработанное тестовое программное обеспечение.
Разработка многопользовательских тестов
В поддерживаемых конфигурациях T2000 используется многосайтовая архитектура ЦП, которая позволяет нескольким инженерам получать доступ к одной тестовой системе и выполнять независимую отладку.
В зависимости от системы и программной среды может поддерживаться до восьми пользователей.
Это может помочь инженерным группам разделить работу по разработке в зависимости от функциональности устройства, например:
Цифровой тест
Аналоговый тест
Питание устройства
тест памяти
Тестирование интерфейса
тест датчика изображения
Оптимизация производства
Анализ данных
Несколько инженеров могут разрабатывать или отлаживать различные разделы тестовой программы, не требуя отдельного полноценного тестировщика для каждого человека.
Такой подход может помочь снизить требования к инженерному оборудованию и сократить время разработки программы испытаний.
Программная среда разработки T2000
Программная среда T2000 предоставляет инструменты для создания тестовых программ, отладки, моделирования и оптимизации производства.
К типичным функциям программного обеспечения могут относиться:
Среда комплекта для быстрой разработки
Разработка многократно используемого тестового кода
Автономное моделирование системы
Редактирование шаблонов
Визуализация волновой формы
Функции логического анализатора
Инструменты в стиле осциллографа
Анализ Шму
Инструменты для создания блок-схем
Оптимизация условий тестирования
Многопользовательский доступ
Выполнение производственной программы
сбор результатов тестирования
Инструменты диагностики и отладки
Версия программного обеспечения и имеющиеся лицензии являются важными составляющими стоимости подержанной системы T2000.
Перед покупкой покупатели должны убедиться, что предлагаемое программное обеспечение поддерживает установленные устройства и предполагаемое применение.
Типичные модули прибора T2000
В таблице ниже представлены типичные семейства модулей T2000. Отдельный тестер может содержать только некоторые из этих модулей.
| Модуль | Тип модуля | Представительная функция |
|---|---|---|
| 1,6 ГДМЭ | Цифровой модуль высокой плотности | До 256 каналов ввода/вывода и работа со скоростью до приблизительно 1,6 Гбит/с. |
| 500МДМ | Цифровой модуль | До 128 каналов ввода/вывода и работа со скоростью до приблизительно 500 Мбит/с. |
| 8GDM | Высокоскоростной цифровой модуль | До 96 каналов ввода/вывода и работа со скоростью до 8 Гбит/с. |
| DPS32A | источник питания устройства | 32 канала с током до приблизительно 1 А на канал |
| ДПС90А | источник питания устройства | 64-канальный источник питания с выбираемыми функциями тока |
| DPS192A | Источник питания для устройств высокой плотности | 96 каналов с различными функциями регулировки тока. |
| DPS150AE | Усовершенствованный источник питания с высоким током | Источник питания для сильноточных устройств с возможностью параллельной работы. |
| PMU32E | Параметрический измерительный блок | Генерация и измерение напряжения/тока для испытаний на постоянный ток и линейность. |
| ММХЭ | Модуль смешанных сигналов высокого напряжения | Функции цифрового измерения, PMU, AWG, оцифровки и измерения высокого напряжения. |
| MFHPE | Плавающий высокомощный модуль | Плавающие ресурсы VI для электропитания, нагрузки и динамических измерений |
| МПК | Модуль перекрестной матрицы | Гибкая трассировка, измерение Кельвина и тестирование параллельных контактов. |
| GPWGD | Модуль AWG и дигитайзер | Генерация и измерение аналоговых сигналов общего назначения. |
| 4.8GICAP | Модуль захвата изображений | Высокоскоростной захват изображения с помощью CMOS-датчика для поддерживаемых интерфейсов MIPI. |
Названия и характеристики модулей могут различаться в зависимости от поколения оборудования и версии системы.
Основные преимущества Advantest T2000
Модульная архитектура тестирования полупроводников
Настраиваемые цифровые, аналоговые, силовые ресурсы и ресурсы захвата изображений.
Поддержка устройств на кристалле (SoC) и устройств со смешанными сигналами.
Возможности тестирования систем управления питанием и автомобильных устройств.
Конфигурации тестирования CMOS-датчиков изображения
Компактная конструкция и возможности крупносерийного производства.
Конфигурации систем с воздушным и жидкостным охлаждением
Цифровые каналы высокой плотности
Параллельное тестирование нескольких тестируемых устройств
Параллельное выполнение тестов
Разработка многопользовательских тестов
Многократно используемая среда разработки программного обеспечения
Гибкие инструменты отладки тестовых программ
Расширяемая емкость прибора
Подходит для разработки, квалификации и производства.
Может быть интегрирован с совместимыми зондами и манипуляторами.
Широкий выбор модулей приборов
Краткое техническое описание проекта
| Спецификация | Представительная информация |
|---|---|
| Тип платформы | Модульная система тестирования полупроводниковых SoC |
| Масштаб системы | Примерно от 13 до 52 слотов для приборов. |
| Максимальное количество каналов | До приблизительно 8192 каналов |
| Варианты охлаждения | Воздушное или жидкостное охлаждение |
| Скорость цифрового модуля | Скорость передачи данных составляет приблизительно 8 Гбит/с, в зависимости от модуля. |
| Цифровые каналы высокой плотности | До 256 каналов на выбранный цифровой модуль |
| Тестовые приложения | SoC, MCU, FPGA, PMIC, автомобильные, смешанные и CMOS-датчики изображения |
| Возможность многопользовательского доступа | До восьми пользователей на поддерживаемых системах |
| Параллельное тестирование | Зависит от устройства и конфигурации. |
| захват изображения датчиком изображения | Скорость передачи данных составляет приблизительно 4,8 Гбит/с при поддержке соответствующих модулей. |
| Заводское использование | Применение в инженерных разработках, характеризации, тестировании пластин и окончательном тестировании. |
| Программное обеспечение | RDK, симулятор, инструменты отладки и оптимизации |
| Внешняя интеграция | Зависит от зондирующего устройства, обработчика и интерфейса завода. |
Данные характеристики описывают платформу T2000 и доступные семейства модулей. Они не представляют собой гарантированную конфигурацию каждой отдельной машины.
Конфигурация T2000 важнее названия модели.
Две системы Advantest T2000 могут обладать существенно разными возможностями тестирования, даже если они используют одно и то же название платформы.
Одна машина может быть сконфигурирована для тестирования цифровых SoC, а другая — для устройств управления питанием или CMOS-датчиков изображения.
Ценность и пригодность подержанного T2000 во многом зависят от следующих факторов:
Тип мэйнфрейма
Тип испытательной головки
Количество доступных слотов
Конфигурация охлаждения
Установленные модули приборов
Количество модулей
Изменения в модуле
Интерфейс платы повышения производительности
Аппаратное обеспечение интерфейса устройства
Версия программного обеспечения
Лицензии на программное обеспечение
Состояние калибровки системы
В комплект входят аксессуары.
Оригинальное приложение
Перед оценкой оборудования покупателям следует запросить полный список аппаратных характеристик.
Контрольный список для покупки подержанного Advantest T2000
| Пункт проверки | Что следует подтвердить |
|---|---|
| Мейнфрейм | Модель, количество слотов, тип охлаждения и условия эксплуатации. |
| Тестовая головка | Модель тестовой головки, количество слотов, состояние интерфейса и комплект кабелей. |
| Установленные модули | Точные названия модулей, количество, версии и серийные номера. |
| Программное обеспечение | Версия, статус лицензии, инструменты разработки и пакеты приложений. |
| Контроллер | Компьютерная модель, операционная система, интерфейсы хранения и связи. |
| Калибровка | Дата калибровки, записи и просроченные данные. |
| Доски производительности | Входящие в комплект платы, совместимость и физическое состояние. |
| интерфейс DUT | Платы управления нагрузкой, интерфейсы для датчиков, разъемы и контактные площадки. |
| Система охлаждения | Условия воздушного или жидкостного охлаждения, насосы, шланги и сигнализация. |
| Энергетическая система | Распределение электроэнергии, потребности в электроснабжении и внутренние условия. |
| Аксессуары | Кабели, документация, запасные модули и инструменты для технического обслуживания. |
| Рабочее состояние | Тестирование загрузки, диагностика, связь и распознавание модулей. |
| История производства | Предыдущее приложение, тип устройства и условия эксплуатации |
| Удаление | Была ли система профессионально отключена и деактивирована. |
| Упаковка | Опора для испытательной головки, защита от вибрации и экспортная упаковка. |
| Установка | Требования к оборудованию, такелажные работы, запуск и калибровка. |
Что проверить перед покупкой подержанного T2000
Перед покупкой подержанного или восстановленного прибора Advantest T2000 покупателям следует подтвердить следующую информацию:
год производства оборудования
модель мэйнфрейма
Модель испытательной головки
Конфигурация с воздушным или жидкостным охлаждением
Количество слотов для приборов
Список установленных модулей
Количество модулей
Серийные номера и версии модулей
Максимальное количество доступных цифровых каналов
возможности источника питания устройства
Ресурсы аналоговых и смешанных сигналов
Возможность захвата изображений
Интерфейс платы повышения производительности
В комплект входят доски для размещения грузов.
Входящие в комплект разъемы или интерфейсы для подключения зондов
Конфигурация системного контроллера
версия операционной системы
версия программного обеспечения T2000
Доступность RDK
статус лицензии на программное обеспечение
Калибровочные записи
Результаты диагностики
Состояние системы охлаждения
Состояние включения питания
Предыдущее производственное приложение
История технического обслуживания
В комплект входят кабели и аксессуары.
Включенные руководства
Имеющиеся запасные модули
Текущий статус установки
Область удаления
Требования к экспортной упаковке
Требования к установке и запуску
Перед покупкой всю систему следует проверить на соответствие плану тестирования целевого устройства.
Типичные области применения
Производственное тестирование SoC
T2000 позволяет комбинировать цифровые, аналоговые и силовые ресурсы для тестирования сложных систем на кристалле.
Тестирование микроконтроллеров и ПЛИС
Цифровые модули высокой плотности могут поддерживать функциональное тестирование, сканирование, тестирование памяти и интерфейсов микроконтроллеров и программируемых логических устройств.
Тестирование PMIC
Модули управления питанием, параметрические и высокомощные модули могут быть сконфигурированы для тестирования напряжения, тока, последовательности и смешанных сигналов микросхем управления питанием.
Тестирование автомобильных полупроводников
Высоковольтные и сильноточные ресурсы позволяют платформе поддерживать отдельные приложения в автомобильной и промышленной полупроводниковой промышленности.
Тестирование АЦП и ЦАП
Для проверки линейности преобразователя и характеризации смешанных сигналов могут использоваться ресурсы параметрических измерений, генерации сигналов и оцифровки.
Тестирование CMOS-датчиков изображения
Для тестирования КМОП-датчиков изображения можно комбинировать модули захвата изображения, цифровые каналы, аналоговые ресурсы и аппаратное обеспечение для обработки изображений.
Инженерные и технические характеристики устройств
Компактные конфигурации могут использоваться для разработки тестовых программ, отладки и характеризации устройств.
Крупномасштабное производство полупроводников
Расширенные системы могут поддерживать большее количество каналов, многосайтовое тестирование и оптимизированную производительность производства.
Почему стоит выбрать Advantest T2000?
Прибор Advantest T2000 подходит для производителей полупроводников, которым требуется конфигурируемая тестовая платформа, а не узкоспециализированный тестер.
Модульная архитектура позволяет выбирать ресурсы прибора в соответствии с целевым устройством. Это позволяет сократить ненужные инвестиции в оборудование, оставляя при этом возможности для дальнейшего расширения.
Для инженерных групп программная среда и многопользовательская архитектура могут способствовать ускорению разработки тестовых программ.
Для производственных предприятий использование высокоточных приборов, одновременное тестирование и возможность проведения испытаний на нескольких площадках могут помочь повысить производительность и снизить стоимость тестирования каждого устройства.
Данная платформа особенно ценна, когда установленная аппаратная конфигурация точно соответствует предполагаемому применению в полупроводниковой промышленности.
Часто задаваемые вопросы
Что такое Advantest T2000?
Advantest T2000 — это модульная автоматизированная система тестирования полупроводниковых устройств, используемая для разработки и выполнения электрических тестов на SoC, цифровых устройствах, интегральных схемах смешанного сигнала, устройствах управления питанием и CMOS-датчиках изображения.
T2000 — это только цифровой тестер?
Нет. Система может комбинировать цифровые, аналоговые, параметрические, энергосберегающие, высокомощные модули и модули захвата изображений.
Какие полупроводниковые устройства может протестировать прибор T2000?
В зависимости от конфигурации, он может тестировать SoC, микроконтроллеры, FPGA, PMIC, автомобильные интегральные схемы, промышленные устройства, компоненты смешанных сигналов и CMOS-датчики изображения.
Сколько каналов поддерживает T2000?
Крупные конфигурации могут обеспечивать до 8192 каналов. Фактическое количество каналов зависит от основного блока, тестовой головки и установленных модулей.
В чём разница между одной системой T2000 и другой?
Основные различия заключаются в основном блоке управления, тестовой головке, типе охлаждения, установленных модулях прибора, количестве каналов, лицензиях на программное обеспечение и специализированном интерфейсном оборудовании.
Поддерживает ли T2000 высокоскоростное цифровое тестирование?
Да. Доступные цифровые модули включают конфигурации, работающие в диапазоне от сотен мегабит в секунду до примерно 8 Гбит/с.
Может ли T2000 тестировать микросхемы управления питанием?
Да. Подходящая конфигурация может включать источники питания устройств, блоки параметрических измерений, высоковольтные ресурсы смешанных сигналов и плавающие модули высокой мощности.
Может ли T2000 тестировать CMOS-датчики изображения?
Да. Правильно сконфигурированная система может включать высокоскоростные модули захвата изображений и ресурсы обработки изображений для приложений, использующих CMOS-датчики изображения.
Поддерживает ли T2000 параллельное тестирование?
Да. Параллельное тестирование нескольких тестируемых устройств поддерживается, но количество тестовых площадок зависит от целевого устройства, ресурсов прибора, конструкции интерфейса и тестовой программы.
Может ли несколько инженеров использовать одну систему T2000?
Поддерживаемые конфигурации позволяют до восьми инженерам одновременно получать доступ к тестеру и выполнять независимые задачи разработки или отладки.
Подходит ли прибор T2000 для тестирования кремниевых пластин?
Платформа может быть интегрирована с совместимым зондом для измерения параметров пластин и интерфейсом для зондовой платы. Необходимое оборудование зависит от типа пластины и области применения.
Можно ли использовать T2000 для окончательного тестирования упаковки?
Да. Его можно подключить к совместимым устройствам для работы с полупроводниками и оборудованию интерфейса устройства для производственного тестирования на уровне корпусов.
Что следует проверить перед покупкой подержанного T2000?
Покупателям следует проверить полный список модулей, конфигурацию тестовой головки, систему охлаждения, лицензии на программное обеспечение, записи о калибровке, контроллер, интерфейсное оборудование, рабочее состояние и входящие в комплект принадлежности.
Совместимы ли все модули T2000 со всеми мэйнфреймами?
Совместимость может зависеть от поколения модуля, основного блока, испытательной головки, конфигурации системы охлаждения и версии программного обеспечения. Перед покупкой следует проверить полную конфигурацию системы.
Запросить информацию об оборудовании Advantest T2000
Ищете систему для тестирования полупроводников Advantest T2000?
Сообщите нам тип целевого устройства, требуемую скорость передачи данных в цифровом виде, количество каналов, требования к питанию, аналоговые ресурсы, целевой объект для параллельного тестирования и предпочтительные условия системы.
Для определения подходящей конфигурации, пожалуйста, предоставьте следующую информацию:
Целевое полупроводниковое устройство
Необходимое тестовое приложение
Цифровой подсчет пинов
Максимальная скорость передачи цифровых данных
Требования к питанию устройства
Требования к аналоговым измерениям
Требования к высокому напряжению или высокому току
Количество параллельных сайтов DUT
модель зондирования или манипулятора пластин
Предпочтительная конфигурация модуля
страна установки
Требуемый график доставки
Мы можем предоставить фотографии имеющегося оборудования, списки установленных модулей, информацию о состоянии, подробные сведения о конфигурации и коммерческое предложение, основанное на требованиях вашего проекта.