L'Advantest T2000 est une plateforme d'équipement de test automatique évolutive conçue pour le développement, la caractérisation et les tests de production de dispositifs semi-conducteurs complexes.
Construit autour d'une architecture modulaire flexible, le T2000 peut être configuré avec des ressources numériques, d'alimentation de l'appareil, de mesure paramétrique, de signaux mixtes, de haute puissance et de capture d'images en fonction des exigences de l'appareil testé.
La plateforme peut prendre en charge un large éventail d'applications semi-conducteurs, notamment les SoC, les microcontrôleurs, les FPGA, les circuits intégrés de gestion de l'alimentation, les dispositifs automobiles, les composants industriels, les dispositifs à signaux mixtes et les capteurs d'images CMOS.
Sa conception évolutive permet aux fabricants de commencer par un système d'ingénierie compact ou à petit volume et d'étendre le testeur pour des nombres de canaux plus élevés et des exigences de production multi-DUT.
Les capacités réelles d'un Advantest T2000 dépendent de son châssis, de sa tête de test, des modules d'instruments installés, des licences logicielles, du matériel d'interface et des accessoires spécifiques à l'application.
Présentation de la plateforme T2000
| Article | Capacité représentative |
|---|---|
| Type d'équipement | Équipement de test automatique modulaire pour semi-conducteurs |
| Applications principales | Tests de SoC, de circuits intégrés numériques, de circuits mixtes, de PMIC, de circuits automobiles, industriels et de capteurs d'image CMOS |
| architecture système | Plateforme modulaire configurable |
| Évolutivité du mainframe | Des configurations compactes refroidies par air aux grands systèmes refroidis par liquide |
| Capacité de la tête de test | Environ 13 à 52 emplacements pour instruments, selon la configuration. |
| Capacité maximale du canal | Jusqu'à environ 8 192 chaînes |
| Performance numérique | Modules disponibles de 500 Mbps à 8 Gbps |
| Tests en parallèle | Capacité multi-DUT basée sur la configuration du dispositif et du module |
| environnement de développement | Kit de développement rapide, simulateur et outils de débogage |
| Développement multi-utilisateurs | Jusqu'à huit utilisateurs sur les configurations prises en charge |
| Refroidissement | Refroidissement par air ou par liquide, selon le système |
| Intégration de la production | Intégration du sondeur, du gestionnaire et de l'interface d'usine, dépendante de la configuration |
Architecture de test modulaire flexible
Le T2000 n'est pas un testeur de semi-conducteurs à fonction fixe. Ses capacités dépendent de la combinaison des modules installés dans le système.
Cette structure modulaire permet de configurer un testeur en fonction des caractéristiques électriques d'un dispositif semi-conducteur spécifique, au lieu d'exiger que chaque système intègre les mêmes ressources instrumentales.
Une configuration T2000 peut contenir des combinaisons de :
Modules de test numériques haute densité
Modules d'interface série haute vitesse
modules d'alimentation pour appareils
Unités de mesure paramétriques
Générateurs de formes d'onde arbitraires
Numériseurs de formes d'onde
Modules mixtes haute tension
Ressources flottantes à haute puissance
Modules de matrice de points de croisement
modules de capture d'images CMOS
Matériel d'interface spécifique à l'application
Assemblages de têtes de test et de cartes de performance
Cette architecture aide les fabricants de semi-conducteurs à trouver un équilibre entre capacité de test, densité de canaux et investissement.
Un système de développement peut être configuré avec les seules ressources nécessaires à la caractérisation du dispositif. Des modules supplémentaires et une capacité de test accrue peuvent ensuite être ajoutés pour la qualification, la production pilote ou la production en grande série.
Principales applications de test des semi-conducteurs
| Catégorie d'appareils | exigences de test typiques |
|---|---|
| Dispositifs SoC | Tests fonctionnels numériques, balayage, mémoire, consommation et mesures de signaux mixtes |
| Microcontrôleurs | E/S numériques, mémoire embarquée, périphériques analogiques et alimentation du dispositif |
| Dispositifs FPGA | Tests des canaux numériques haute densité, des motifs de balayage et des interfaces |
| Dispositifs PMIC | Mesure de tension, de courant, de séquencement de puissance et paramétrique |
| circuits intégrés automobiles | Essais haute tension, courant élevé et signaux mixtes |
| appareils industriels | Vérification fonctionnelle, d'alimentation, analogique et d'interface |
| Dispositifs ADC et DAC | Paramètres CC, linéarité, génération de formes d'onde et numérisation |
| circuits intégrés audio et vidéo | Mesure analogique à grande plage dynamique |
| Circuits intégrés d'interface à haute vitesse | Tests d'interface série et parallèle |
| capteurs d'image CMOS | Capture d'images, traitement d'images, mesures numériques et analogiques |
| Dispositifs semi-conducteurs grand public | Tests fonctionnels numériques, de puissance, analogiques et multidomaines |
Tests de SoC et de dispositifs numériques
L'Advantest T2000 peut être configuré pour tester des dispositifs système sur puce hautement intégrés contenant une logique numérique, une mémoire embarquée, des circuits analogiques, des fonctions de gestion de l'alimentation et des interfaces à haut débit.
Les modules numériques haute densité fournissent le nombre de canaux requis pour des appareils tels que :
Microprocesseurs
Microcontrôleurs
FPGA
SoC grand public
Dispositifs de communication
Contrôleurs d'interface
Dispositifs de traitement numérique du signal
Circuits intégrés à fonctions mixtes
Les ressources numériques disponibles peuvent prendre en charge des fonctions telles que :
Tests de modèles fonctionnels
Test de numérisation
génération de modèles algorithmiques
Tests de mémoire
Mesure paramétrique par broche
tests synchrones à la source
Domaines temporels multiples
test d'interface série
Tests d'interface parallèles
Tests multicentriques à haute densité
Le module numérique approprié doit être sélectionné en fonction du débit de données requis, du nombre de broches, de la précision de synchronisation et de l'objectif de parallélisme de test.
Tests de signaux mixtes et analogiques
De nombreux dispositifs semi-conducteurs modernes combinent logique numérique et fonctions analogiques. Le T2000 permet d'intégrer la génération de formes d'onde, la numérisation, la mesure de tension et la mesure de courant sur une même plateforme de test.
Selon les modules installés, les tests en signaux mixtes peuvent inclure :
génération de formes d'onde analogiques
Numérisation de la forme d'onde
Génération de tension
génération actuelle
Mesure de tension
Mesure actuelle
Tests de linéarité ADC
test de linéarité du CNA
Tests de fréquence audio
Mesure de la bande passante vidéo
Mesure de tension différentielle
Mesure de synchronisation par canal
Tests IDDQ
Caractérisation statique et dynamique des dispositifs
Cela permet aux fabricants de tester plusieurs blocs fonctionnels d'un circuit intégré complexe sans transférer le dispositif entre des systèmes de test distincts.
Gestion de l'énergie et tests des dispositifs automobiles
Le T2000 peut être équipé d'une alimentation pour dispositifs et de modules mixtes haute puissance pour tester la gestion de l'alimentation et les dispositifs semi-conducteurs automobiles.
Les applications potentielles comprennent :
PMIC de communication
circuits intégrés de gestion de l'alimentation pour les consommateurs
ASSP automobiles
Dispositifs de gestion de batterie
Dispositifs de contrôle de puissance
régulateurs de tension
circuits intégrés de commande
Dispositifs de puissance industrielle
Composants semi-conducteurs à courant élevé
Circuits intégrés à tension mixte
Les ressources instrumentales disponibles peuvent fournir :
Plusieurs canaux d'alimentation pour appareils
Capacité d'alimentation à courant élevé
Ressources flottantes en tension et en courant
Fonctionnement statique et pulsé
Changement de gamme rapide
Modulation de tension et de courant
Mesure simultanée de la tension et du courant
mesure Kelvin
Tests de contact parallèles
Tests numériques haute tension
Routage des signaux aux points de croisement
La tension, le courant et la capacité exactes des canaux dépendent du module installé.
Tests de capteurs d'image CMOS
Un Advantest T2000 correctement configuré peut être utilisé pour les tests de production des capteurs d'image CMOS.
Les capteurs d'image CMOS intègrent souvent des matrices de détection d'image, ainsi que des circuits logiques numériques, des convertisseurs analogique-numérique (CAN), numérique-analogique (CNA), des circuits de commande et des interfaces de sortie haut débit. L'architecture modulaire du T2000 permet de combiner les fonctions numériques, analogiques, d'alimentation et d'acquisition d'image nécessaires au sein d'un seul système de test.
Les applications potentielles des capteurs d'images CMOS comprennent les dispositifs utilisés dans :
Smartphones
caméras de sécurité
caméras automobiles
caméras industrielles
Équipement de vision industrielle
Produits d'imagerie grand public
Systèmes de caméras haute résolution
Une configuration actuelle de capteur d'image peut prendre en charge la capture d'images à haute vitesse pour les interfaces MIPI, une mémoire de capture à double banque et des ressources de traitement d'images dédiées.
Selon la configuration installée, le système peut fournir :
MIPI D-PHY image capture
Capture d'image MIPI C-PHY
Prise en charge optionnelle de MIPI A-PHY
Acquisition de données d'images en série à haute vitesse
Mémoire de capture d'images à double banque
Moteurs de traitement d'images dédiés
Capture et traitement simultanés des données
Tests de capteurs d'image multi-DUT
Tests de fonctionnement numérique et analogique
Capacité de production à grand volume
La capacité de test du capteur d'image d'un T2000 d'occasion doit être vérifiée à partir des modules de capture installés, du matériel de traitement, du logiciel et des équipements d'interface.
Configuration système évolutive
La plateforme Advantest T2000 peut être adaptée aux différentes étapes du développement de produits semi-conducteurs.
| Étape de production | Objectif système typique | Considérations de configuration |
|---|---|---|
| Développement de l'ingénierie | Création du programme de test initial et caractérisation du dispositif | Unité centrale compacte et modules d'instruments essentiels |
| Qualification de l'appareil | Couverture de mesure étendue et tests de fiabilité | Ressources numériques, analogiques, d'alimentation ou paramétriques supplémentaires |
| Production pilote | Tests reproductibles avec un parallélisme modéré | Interface de production et fonctionnalité multisite |
| Production de volume moyen | Débit amélioré et coût des tests réduit | Densité de canaux plus élevée et capacité de tête de test accrue |
| Production en grande série | Parallélisme et efficacité de production maximaux | Système central de grande taille, modules multiples et interface DUT optimisée |
| Assistance pour la gamme de produits | Test de plusieurs types d'appareils connexes | Logiciels réutilisables et allocation flexible des modules |
Les configurations compactes peuvent contribuer à réduire l'investissement initial en ingénierie ou en production de petites séries.
Les configurations plus importantes peuvent fournir des emplacements supplémentaires pour têtes de test, des canaux d'instruments et des ressources de test parallèles pour la production en série.
Tests parallèles multi-DUT
Tester plusieurs dispositifs simultanément est une méthode importante pour réduire les coûts des tests de semi-conducteurs.
Le T2000 utilise des modules haute densité et une technologie de contrôle multisite pour prendre en charge les tests en parallèle. Le nombre d'appareils pouvant être testés simultanément dépend de :
Nombre de broches de l'appareil
Nombre de canaux numériques requis
exigences en matière d'alimentation électrique
Ressources de mesure analogiques
Conception de carte d'interface
Configuration de la tête de test
quantité de modules d'instruments
structure du programme de test
Interface de gestionnaire ou de sonde
Durée du test spécifique à l'appareil
Les tests en parallèle ne dépendent pas uniquement du modèle de testeur. La configuration complète du système et le programme de test doivent être conçus en fonction du dispositif cible.
Un système multisite correctement configuré peut contribuer à améliorer :
débit de production
Utilisation du testeur
Coût par appareil testé
efficacité de l'atelier d'équipement
productivité du manipulateur ou du sondeur
Capacité de production globale
Capacité de test simultané
Le T2000 peut exécuter différentes fonctions de test de manière séquentielle ou simultanée, en fonction du programme et des ressources de l'instrument.
Les tests simultanés permettent de mesurer en même temps des fonctions indépendantes d'un appareil, au lieu d'attendre la fin de chaque test avant de passer au suivant.
Les combinaisons simultanées potentielles peuvent inclure :
Test fonctionnel numérique et mesure de la puissance
Mesure analogique et exécution de motifs numériques
Tests multiples dans le domaine de la puissance
Capture d'images et traitement des données
Mesures parallèles sur plusieurs sites DUT
Des tests simultanés efficaces peuvent réduire la durée totale des tests, mais ils nécessitent des ressources instrumentales appropriées et un logiciel de test correctement développé.
Développement de tests multi-utilisateurs
Les configurations T2000 prises en charge utilisent une architecture CPU multisite qui permet à plusieurs ingénieurs d'accéder à un système de test et d'effectuer des travaux de débogage indépendants.
Jusqu'à huit utilisateurs peuvent être pris en charge, selon le système et l'environnement logiciel.
Cela peut aider les équipes d'ingénierie à répartir le travail de développement par fonction de l'appareil, par exemple :
Test numérique
Test analogique
Puissance de l'appareil
test de mémoire
Test d'interface
test du capteur d'image
Optimisation de la production
Analyse des données
Plusieurs ingénieurs peuvent développer ou déboguer différentes sections du programme de test sans qu'il soit nécessaire de disposer d'un testeur complet distinct pour chaque personne.
Cette approche peut contribuer à réduire les besoins en équipements d'ingénierie et à raccourcir le temps de développement des programmes de test.
Environnement logiciel et de développement T2000
L'environnement logiciel T2000 fournit des outils pour la création de programmes de test, le débogage, la simulation et l'optimisation de la production.
Les fonctions logicielles représentatives peuvent inclure :
Environnement du kit de développement rapide
Développement de code de test réutilisable
simulation de système hors ligne
édition de modèles
Visualisation de la forme d'onde
Fonctions d'analyseur logique
Outils de type oscilloscope
Analyse Shmoo
Outils de diagrammes fonctionnels
Optimisation des conditions de test
Accès multi-utilisateurs
Exécution du programme de production
Collecte des résultats des tests
Outils de diagnostic et de débogage
La version du logiciel et les licences disponibles sont des éléments importants de la valeur d'un système T2000 d'occasion.
Avant tout achat, les acheteurs doivent vérifier que le logiciel proposé est compatible avec les instruments installés et l'application prévue.
Modules d'instruments représentatifs T2000
Le tableau suivant présente des exemples de familles de modules T2000. Un testeur individuel peut ne contenir que certains de ces modules.
| Module | Type de module | Fonction représentative |
|---|---|---|
| 1,6GDME | Module numérique haute densité | Jusqu'à 256 canaux d'E/S et un débit maximal d'environ 1,6 Gbit/s |
| 500MDM | Module numérique | Jusqu'à 128 canaux d'E/S et un débit maximal d'environ 500 Mbit/s. |
| 8GDM | Module numérique haute vitesse | Jusqu'à 96 canaux d'E/S et un débit maximal d'environ 8 Gbit/s |
| DPS32A | Alimentation de l'appareil | 32 canaux avec jusqu'à environ 1 A par canal |
| DPS90A | Alimentation de l'appareil | Alimentation 64 canaux avec fonctions de courant sélectionnables |
| DPS192A | Alimentation pour dispositifs haute densité | 96 canaux avec différentes fonctions de capacité de courant |
| DPS150AE | Alimentation haute intensité améliorée | Alimentation pour dispositifs à courant élevé avec capacité de fonctionnement en parallèle |
| PMU32E | Unité de mesure paramétrique | Génération et mesure de tension/courant pour les tests de courant continu et de linéarité |
| MMXHE | Module mixte haute tension | Fonctions de mesure numérique, PMU, AWG, numériseur et haute tension |
| MFHPE | Module flottant haute puissance | Ressources VI flottantes pour l'alimentation, la charge et la mesure dynamique |
| MPCM | Module de matrice de points de croisement | routage flexible, mesure Kelvin et test de contact parallèle |
| GPWGD | Module AWG et numériseur | Génération et mesure de formes d'onde analogiques à usage général |
| 4.8GICAP | Module de capture d'images | Capture d'images CMOS haute vitesse pour les interfaces MIPI prises en charge |
Les noms et les spécifications des modules peuvent varier en fonction de la génération du matériel et de la révision du système.
Principaux avantages de l'Advantest T2000
Architecture de test modulaire pour semi-conducteurs
Ressources configurables numériques, analogiques, d'alimentation et de capture d'images
Prise en charge des SoC et des dispositifs à signaux mixtes
Gestion de l'alimentation et capacités de test des dispositifs automobiles
configurations de test des capteurs d'image CMOS
Options d'ingénierie compacte et de production en grande série
Configurations de systèmes refroidis par air et par liquide
Canaux numériques à haute densité
Tests parallèles multi-DUT
Exécution de tests simultanés
Développement de tests multi-utilisateurs
Environnement de développement logiciel réutilisable
Outils de débogage flexibles pour les programmes de test
Capacité d'instrument extensible
Convient au développement, à la qualification et à la production
Peut être intégré avec des sondes et des manipulateurs compatibles
Large choix de modules d'instruments
Résumé technique représentatif
| Article de spécification | Informations représentatives |
|---|---|
| Type de plateforme | Système de test de semi-conducteurs SoC modulaire |
| Échelle du système | Environ 13 à 52 emplacements pour instruments |
| Nombre maximal de canaux | Jusqu'à environ 8 192 chaînes |
| options de refroidissement | Refroidissement par air ou par liquide |
| vitesses des modules numériques | Jusqu'à environ 8 Gbit/s, selon le module |
| Canaux numériques à haute densité | Jusqu'à 256 canaux par module numérique sélectionné |
| Applications de test | SoC, MCU, FPGA, PMIC, automobile, capteurs d'image mixtes et CMOS |
| Fonctionnalité multi-utilisateurs | Jusqu'à huit utilisateurs sur les systèmes compatibles |
| Tests en parallèle | Dépendant du périphérique et de la configuration |
| Capture du capteur d'image | Jusqu'à environ 4,8 Gbit/s avec les modules compatibles |
| Utilisation en usine | Applications d'ingénierie, de caractérisation, de test sur plaquette et de test final |
| Logiciel | RDK, simulateur, outils de débogage et d'optimisation |
| Intégration externe | dépendant de la sonde, du gestionnaire et de l'interface d'usine |
Ces spécifications décrivent la plateforme T2000 et les familles de modules disponibles. Elles ne représentent pas la configuration garantie de chaque machine.
La configuration du T2000 est plus importante que le nom du modèle.
Deux systèmes Advantest T2000 peuvent avoir des capacités de test très différentes même s'ils utilisent le même nom de plateforme.
Une machine peut être configurée pour les tests de SoC numériques, tandis qu'une autre peut être conçue pour les dispositifs de gestion de l'alimentation ou les capteurs d'image CMOS.
La valeur et l'adéquation d'un T2000 d'occasion dépendent fortement de :
Type d'ordinateur central
Type de tête de test
Nombre de places disponibles
configuration de refroidissement
Modules d'instruments installés
Quantités de modules
Révisions des modules
Interface du tableau de bord de performance
Matériel d'interface de périphérique
Version du logiciel
Licences logicielles
État d'étalonnage du système
Accessoires inclus
Demande originale
Les acheteurs doivent demander une liste complète de la configuration matérielle avant d'évaluer la machine.
Liste de vérification pour l'achat d'un Advantest T2000 d'occasion
| élément d'inspection | Ce qui doit être confirmé |
|---|---|
| Unité centrale | Modèle, nombre d'emplacements, type de refroidissement et conditions de fonctionnement |
| Tête de test | Modèle de tête de test, nombre d'emplacements, état de l'interface et jeu de câbles |
| Modules installés | Noms exacts des modules, quantités, révisions et numéros de série |
| Logiciel | Version, statut de la licence, outils de développement et packages d'application |
| Contrôleur | Modèle informatique, système d'exploitation, interfaces de stockage et de communication |
| Étalonnage | Date d'étalonnage, enregistrements et articles périmés |
| tableaux de performance | Cartes incluses, compatibilité et état physique |
| Interface DUT | Cartes de chargement, interfaces de sondes, prises et ensembles pogo |
| Circuit de refroidissement | Système de refroidissement par air ou par liquide, pompes, tuyaux et alarmes |
| Système électrique | Distribution de l'énergie, besoins en alimentation et conditions internes |
| Accessoires | Câbles, documentation, modules de rechange et outils de maintenance |
| État opérationnel | Test de démarrage, diagnostic, communication et reconnaissance des modules |
| Historique de production | Application précédente, type d'appareil et environnement d'exploitation |
| Désinstallation | Si le système a été arrêté et déconnecté par des professionnels |
| Emballage | Support de la tête de test, protection contre les vibrations et emballage d'exportation |
| Installation | Exigences relatives aux installations, au montage, au démarrage et à l'étalonnage |
Que vérifier avant d'acheter un T2000 d'occasion
Avant d'acheter un Advantest T2000 d'occasion ou remis à neuf, les acheteurs doivent vérifier les informations suivantes :
année de fabrication d'équipements
Modèle de mainframe
Modèle de tête d'essai
Configuration refroidie par air ou par liquide
Nombre d'emplacements pour instruments
Liste des modules installés
Quantités de modules
Numéros de série et révisions des modules
Nombre maximal de chaînes numériques disponibles
Capacité d'alimentation de l'appareil
Ressources analogiques et mixtes
Capacité de capture d'images
Interface du tableau de bord de performance
plateaux de chargement inclus
Prises ou interfaces de sonde incluses
configuration du contrôleur système
Version du système d'exploitation
Version du logiciel T2000
disponibilité RDK
État de la licence logicielle
Enregistrements d'étalonnage
Résultats du diagnostic
État du système de refroidissement
État de mise sous tension
Application de production précédente
Historique de maintenance
Câbles et accessoires inclus
Manuels inclus
Modules de rechange disponibles
État actuel de l'installation
Désinstaller la portée
exigences d'emballage pour l'exportation
exigences d'installation et de démarrage
Le système complet doit être évalué par rapport au plan de test du dispositif cible avant tout achat.
Applications typiques
Tests de production SoC
Le T2000 peut combiner des ressources numériques, analogiques et d'alimentation pour tester des dispositifs complexes sur puce.
Tests de microcontrôleurs et de FPGA
Les modules numériques haute densité peuvent prendre en charge les tests fonctionnels, de balayage, de mémoire et d'interface pour les microcontrôleurs et les dispositifs logiques programmables.
Tests PMIC
Les modules de puissance, paramétriques et haute puissance des dispositifs peuvent être configurés pour les tests de tension, de courant, de séquencement et de signaux mixtes des circuits intégrés de gestion de l'alimentation.
Tests de semi-conducteurs automobiles
Les ressources haute tension et haute intensité permettent à la plateforme de prendre en charge certaines applications de semi-conducteurs automobiles et industrielles.
Tests ADC et DAC
Les ressources de mesure paramétrique, de génération de formes d'onde et de numérisation peuvent être utilisées pour la linéarité du convertisseur et la caractérisation des signaux mixtes.
Tests de capteurs d'image CMOS
Les modules de capture d'images, les canaux numériques, les ressources analogiques et le matériel de traitement d'images peuvent être combinés pour tester les capteurs d'images CMOS.
Ingénierie et caractérisation des dispositifs
Les configurations compactes peuvent être utilisées pour le développement de programmes de test, le débogage et la caractérisation de dispositifs.
Production de semi-conducteurs à grand volume
Les systèmes étendus peuvent prendre en charge un plus grand nombre de canaux, des tests multisites et un débit de production optimisé.
Pourquoi choisir l'Advantest T2000 ?
L'Advantest T2000 convient aux fabricants de semi-conducteurs qui ont besoin d'une plateforme de test configurable plutôt que d'un testeur à usage unique.
Son architecture modulaire permet de sélectionner les ressources de l'instrument en fonction du dispositif cible. Cela permet de réduire les investissements matériels inutiles tout en laissant la possibilité d'extensions futures.
Pour les équipes d'ingénierie, l'environnement logiciel et l'architecture multi-utilisateurs peuvent favoriser un développement plus rapide des programmes de test.
Pour les installations de production, les instruments haute densité, les tests simultanés et la capacité multisite peuvent contribuer à améliorer le débit et à réduire le coût par appareil testé.
Cette plateforme est particulièrement précieuse lorsque la configuration matérielle installée correspond étroitement à l'application semi-conducteur prévue.
Foire aux questions
Qu'est-ce que l'Advantest T2000 ?
L'Advantest T2000 est un système de test automatique modulaire pour semi-conducteurs utilisé pour développer et exécuter des tests électriques sur des SoC, des dispositifs numériques, des circuits intégrés mixtes, des dispositifs de gestion de l'alimentation et des capteurs d'image CMOS.
Le T2000 est-il uniquement un testeur numérique ?
Non. Le système peut combiner des modules numériques, analogiques, paramétriques, d'alimentation, haute puissance et de capture d'images.
Quels types de semi-conducteurs le T2000 peut-il tester ?
Selon sa configuration, il peut tester des SoC, des microcontrôleurs, des FPGA, des PMIC, des circuits intégrés automobiles, des dispositifs industriels, des composants à signaux mixtes et des capteurs d'images CMOS.
Combien de canaux le T2000 prend-il en charge ?
Les configurations importantes peuvent fournir jusqu'à environ 8 192 canaux. Le nombre réel de canaux dépend de l'ordinateur central, de la tête de test et des modules installés.
Quelle est la différence entre deux systèmes T2000 ?
Les principales différences résident dans l'ordinateur central, la tête de test, le type de refroidissement, les modules d'instruments installés, le nombre de canaux, les licences logicielles et le matériel d'interface spécifique à l'application.
Le T2000 prend-il en charge les tests numériques à haute vitesse ?
Oui. Les modules numériques disponibles incluent des configurations fonctionnant de centaines de mégabits par seconde jusqu'à environ 8 Gbit/s.
Le T2000 peut-il tester les circuits intégrés de gestion de l'alimentation ?
Oui. Une configuration appropriée peut comprendre des alimentations pour les dispositifs, des unités de mesure paramétriques, des ressources mixtes haute tension et des modules de puissance flottants.
Le T2000 peut-il tester les capteurs d'image CMOS ?
Oui. Un système correctement configuré peut inclure des modules de capture d'images haute vitesse et des ressources de traitement d'images pour les applications de capteurs d'images CMOS.
Le T2000 prend-il en charge les tests en parallèle ?
Oui. Les tests parallèles multi-DUT sont pris en charge, mais le nombre de sites dépend du dispositif cible, des ressources de l'instrument, de la conception de l'interface et du programme de test.
Plusieurs ingénieurs peuvent-ils utiliser un seul système T2000 ?
Les configurations prises en charge permettent à un maximum de huit ingénieurs d'accéder au testeur et d'effectuer des tâches de développement ou de débogage indépendantes.
Le T2000 est-il adapté aux tests de plaquettes ?
La plateforme peut être intégrée à un testeur de plaquettes compatible et à une interface de carte de test. Le matériel requis dépend de la plaquette et de l'application.
Le T2000 peut-il être utilisé pour les tests finaux d'emballage ?
Oui. Il peut être connecté à des manipulateurs de semi-conducteurs compatibles et à des interfaces matérielles pour les tests de production au niveau du boîtier.
Que faut-il vérifier avant d'acheter un T2000 d'occasion ?
Les acheteurs doivent vérifier la liste complète des modules, la configuration de la tête de test, le système de refroidissement, les licences logicielles, les enregistrements d'étalonnage, le contrôleur, le matériel d'interface, l'état de fonctionnement et les accessoires inclus.
Tous les modules T2000 sont-ils compatibles avec tous les ordinateurs centraux ?
La compatibilité peut dépendre de la génération du module, de l'ordinateur central, de la tête de test, de la configuration de refroidissement et de la version du logiciel. Il est recommandé de vérifier la configuration complète du système avant l'achat.
Demande d'informations sur l'équipement Advantest T2000
Vous recherchez un système de test de semi-conducteurs Advantest T2000 ?
Veuillez nous indiquer le type de votre appareil cible, la vitesse numérique requise, le nombre de canaux, les besoins en énergie, les ressources analogiques, la cible de test parallèle et la condition système souhaitée.
Pour identifier une configuration appropriée, veuillez fournir :
Dispositif semi-conducteur cible
Application de test requise
Nombre de broches numériques
Débit de données numériques maximal
exigences en matière d'alimentation de l'appareil
exigences de mesure analogiques
Exigences en matière de haute tension ou de courant élevé
Nombre de sites DUT parallèles
Modèle de sondeur ou de manipulateur de plaquettes
Configuration de module préférée
Pays d'installation
Calendrier de livraison requis
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