Les équipements de test automatique pour semi-conducteurs appliquent des stimuli électriques programmés à un circuit intégré, mesurent la réponse et déterminent si le composant est conforme aux spécifications. Découvrez les systèmes ATE disponibles pour les SoC, les circuits numériques, les circuits mixtes, les PMIC et les applications connexes, puis configurez le testeur en fonction de votre composant, de votre étape de test et de votre objectif de production.
Examinez l'équipement actuel, puis confirmez les modules installés, la tête de test, le logiciel, l'état d'étalonnage et le matériel d'interface du système faisant l'objet du devis.
Système de test modulaire pour semi-conducteurs Advantest T2000 destiné aux SoC, aux circuits numériques, aux circuits mixtes, aux PMIC et aux circuits intégrés automobiles.
Le choix d'un système de test automatique (ATE) ne se limite pas au nombre de broches ou à la marque. Les ressources de test nécessaires dépendent des fonctions électriques internes du circuit intégré cible.
Vitesse numérique, précision analogique, consommation d'énergie, capacité de courant élevé, capture d'images et ressources RF peuvent tous modifier la combinaison correcte de plateforme et de module.
Examiner les exigences d'un test d'appareilLa réussite du tri des plaquettes ou du test final dépend de la continuité du signal et du processus mécanique. Le testeur, le matériel d'interface, le dispositif de sondage ou de manipulation, le logiciel et le flux de données de production doivent fonctionner comme un seul élément.
Positionne la puce ou le dispositif encapsulé, contrôle le contact et peut assurer le conditionnement thermique.
La carte de sonde, la carte de charge, la prise, l'ensemble pogo et les câbles transportent le stimulus et les mesures.
Les modules numériques, analogiques, d'alimentation et paramétriques fournissent les ressources électriques nécessaires au dispositif testé.
Les modèles, les limites, le timing, les séquences de mesure et la logique de tri exécutent le plan de test du dispositif.
Les résultats sont intégrés à l'analyse du rendement, à la traçabilité, aux systèmes MES et aux systèmes de contrôle de la production.
L'achat d'un mainframe ATE sans l'interface et le logiciel appropriés peut rendre le système inutilisable pour le produit cible. Vérifiez l'intégralité de la cellule de test avant de comparer les devis.
Explorez les solutions de test et de manutention →Le testeur électrique peut prendre en charge les deux étapes, mais l'interface mécanique, le matériel de contact, le parallélisme et le flux de production sont différents.
Les tests électriques sont effectués directement sur la puce avant le découpage. La cellule nécessite la carte de test appropriée, le flux de cartographie de la plaquette, les conditions de serrage et l'interface de test adéquates.
Les circuits intégrés encapsulés sont insérés dans des supports, testés électriquement et triés selon les résultats. La cellule nécessite un dispositif de manipulation adapté, un système HIFIX, un contacteur, une carte de charge et un système de régulation de température.
Les acheteurs d'ATE comparent souvent d'abord le prix d'achat, mais les considérations économiques liées à la production sont généralement dictées par durée du test, nombre de sites parallèles, taux de retest, stabilité des contacts et utilisation du système.
Un testeur bon marché peut s'avérer coûteux s'il ne dispose pas des canaux, des instruments ou de la capacité d'interface nécessaires au déploiement multisite prévu. Une configuration surdimensionnée peut également immobiliser des capitaux.
L'objectif pratique est une configuration système qui assure la couverture et le débit requis sans payer pour des instruments que l'appareil n'utilisera pas.
Un testeur de semi-conducteurs d'occasion ne peut être évalué à partir du seul nom de la plateforme. Demandez un inventaire complet du matériel, des logiciels et des interfaces associés à la machine.
La valeur d'un système ATE d'occasion dépend des ressources installées et de leur adéquation au programme de test cible.
Confirmer le type de châssis, le nombre d'emplacements, le modèle de tête de test, le refroidissement par air ou liquide et les exigences en matière d'alimentation.
Demander des listes précises des modules numériques, analogiques, PMU, DPS, haute puissance ou de capture d'images.
Vérifiez que le contrôleur, le système d'exploitation et le logiciel prennent en charge les instruments installés.
Identifiez ce qui est inclus et ce qui doit être conçu ou approvisionné séparément pour le dispositif testé.
Vérifiez les dates d'étalonnage, l'état de mise sous tension, les enregistrements de diagnostic et l'application précédente.
Préciser le support de la tête de test, l'emballage pour l'exportation, le gréement, l'installation et l'étalonnage après livraison.
Utilisez ces liens lorsque l'exigence dépasse le cadre du testeur lui-même ou lorsque la phase de test reste à définir.
Examinez comment le sondage des plaquettes, la manipulation des tests finaux et les ressources de test électrique fonctionnent ensemble, depuis les tests CP jusqu'au tri des dispositifs encapsulés.
Consultez le guide de test des semi-conducteurs →Réponses aux questions fréquentes concernant les équipements de test automatisés, l'intégration des cellules de test et la configuration des systèmes utilisés.
Il applique des stimuli numériques, analogiques, de puissance ou paramétriques programmés à un circuit intégré, mesure la réponse et compare les résultats aux limites de test. Les dispositifs qu'il peut tester dépendent des instruments installés, du logiciel et de l'interface du dispositif testé.
L'appareil de test automatique (ATE) génère et mesure des signaux électriques. Le dispositif de test manipule les composants encapsulés, contrôle leur température de test, les place dans le contacteur et les trie en fonction du résultat renvoyé par le testeur.
Potentiellement, oui. Un testeur approprié peut se connecter à un testeur de plaquettes pour les tests CP ou à un manipulateur pour le test final, mais chaque étape nécessite un matériel d'interface, des solutions de contact, un flux logiciel et une intégration de production différents.
Commençons par les fonctions du dispositif. Les plateformes SoC générales peuvent combiner des ressources numériques, analogiques et d'alimentation, tandis que les applications de mémoire, RF/mmWave ou haute puissance peuvent nécessiter une instrumentation spécialisée ou une plateforme dédiée.
Leurs systèmes centraux, têtes de test, quantités de modules, révisions, licences logicielles, état d'étalonnage, matériel d'interface et accessoires inclus peuvent être très différents. Une liste de configuration complète est nécessaire avant toute comparaison de prix.
Veuillez indiquer le périphérique ou l'application cible, la plateforme ou le modèle préféré, l'étape de test, les ressources numériques ou analogiques requises, le nombre de sites prévu, les informations d'interface actuelles, l'état de machine préféré, la destination et le calendrier.
Veuillez nous indiquer l'application semi-conducteur, les ressources de test nécessaires, l'étape de tri des plaquettes ou de test final, la marque ou le modèle souhaité, l'état et la destination. Nous examinerons la configuration système disponible et les éléments manquants de la cellule de test.