Advantest T2000 modulair SoC- en mixed-signal halfgeleidertestsysteem
Advantest T2000 modulair halfgeleidertestsysteem voor SoC, digitale, mixed-signal, PMIC, automotive d
Elektrische test van halfgeleiders
Halfgeleider ATE-systemen voor IC-testen
Automatische testapparatuur voor halfgeleiders past geprogrammeerde elektrische stimuli toe op een IC, meet de respons en bepaalt of het apparaat aan de specificaties voldoet. Bekijk de beschikbare ATE-systemen voor SoC, digitale, mixed-signal, PMIC en aanverwante toepassingen en stem vervolgens de testerconfiguratie af op uw apparaat, testfase en productiedoel.
Huidige apparatuur
Beschikbare halfgeleider-ATE-systemen
Bekijk de huidige apparatuur en bevestig vervolgens de geïnstalleerde modules, testkop, software, kalibratiestatus en interfacehardware van het daadwerkelijke systeem waarvoor een offerte wordt uitgebracht.
Twee testers met dezelfde platformnaam kunnen zeer verschillende mogelijkheden hebben. De volledige configuratielijst is belangrijker dan alleen de modelnaam.
Toepassingsmatching
Begin met de apparaatfuncties die u moet testen.
Een ATE-systeem wordt niet alleen gekozen op basis van het aantal pinnen of het merk. De benodigde testfunctionaliteit komt voort uit de elektrische functies binnen de doel-IC.
Digitale snelheid, analoge nauwkeurigheid, apparaatvermogen, hoge stroomcapaciteit, beeldopname en RF-bronnen Dit kan allemaal van invloed zijn op de juiste platform- en modulecombinatie.
Een testvereiste voor een apparaat beoordelenApparaatgebiedTypische bronnen voor testersBelangrijkste aankoopvraag
DigitaalSoC, MCU & FPGA
Digitale kanalen met hoge dichtheid, scan, geheugen, timing en parametrische meting per pin.
Komen de datasnelheid, het aantal pinnen en de patroonbronnen overeen met het apparaat?
StroomPMIC & Automotive IC
Apparaatvoedingen, spannings-/stroommeting, hoogspannings- of hoogstroombronnen.
Kunnen de geïnstalleerde modules de vereiste werkingsbereiken detecteren en meten?
AnaloogGemengd signaal, ADC & DAC
Golfvormgeneratie, digitalisering, PMU, timing en ruisarme analoge meting.
Voldoet de tester aan de doelstellingen op het gebied van bandbreedte, nauwkeurigheid en dynamisch bereik?
BeeldvormingCMOS-beeldsensoren
Beeldregistratie, snelle interfaces, digitale besturing, analoge meet- en verwerkingsmogelijkheden.
Zijn de opnamemodules, software en optische interface inbegrepen?
GespecialiseerdRF, geheugen of discrete voeding
Toepassingsspecifieke RF-, geheugen- of voedingsinstrumentatie en bijbehorende interfacehardware.
Is een algemene SoC-tester geschikt, of is een gespecialiseerd platform vereist?
Volledige testcel
De tester is slechts één onderdeel van het ATE-systeem.
Een succesvolle wafersortering of eindtest is afhankelijk van het complete signaal- en mechanische traject. De tester, interfacehardware, probe- of handler, software en de dataflow van de productie moeten als één geheel functioneren.
Sonde of handvat
Positioneert de waferchip of het verpakte apparaat, regelt het contact en kan temperatuurregeling bieden.
DUT-interface
De probekaart, de loadboard, de socket, de pogo-assemblage en de kabels transporteren de stimuli en metingen.
Testkop en instrumenten
Digitale, analoge, vermogens- en parametrische modules leveren de elektrische energie die het te testen apparaat nodig heeft.
Testprogramma
Patronen, limieten, timing, meetsequenties en binninglogica voeren het testplan van het apparaat uit.
Gegevens- en fabrieksintegratie
De resultaten worden gebruikt voor opbrengstanalyses, traceerbaarheid, MES-systemen en productiecontrolesystemen.
Het aanschaffen van een ATE-mainframe zonder de juiste interface en software kan ertoe leiden dat het systeem onbruikbaar wordt voor het beoogde product. Controleer de volledige testcel voordat u offertes vergelijkt.
Ontdek test- en afhandelingsoplossingen →
Testfase
Zal de ATE-test plaatsvinden tijdens de wafersortering of de eindtest?
De elektrische tester kan beide fasen ondersteunen, maar de mechanische interface, contacthardware, parallelle verwerking en productiestroom verschillen.
ATE aangesloten op een probe-station of waferprober
Elektrische tests worden direct op de chip uitgevoerd vóór het snijden. De testcel vereist de juiste probe-kaart, wafer-map-flow, chuck-condities en probe-interface.
- Probe-kaartformaat en pin-aantal
- Wafergrootte en temperatuurvereisten
- Werkproces voor bekende goede chips en waferkaarten
- Multisite-sondering en contactopbrengst
ATE verbonden met een halfgeleidertesthandler
De verpakte IC's worden in sockets geplaatst, elektrisch getest en gesorteerd op basis van het resultaat. De cel vereist een bijbehorende handler, HIFIX, contactor, loadboard en temperatuurregeling.
- Compatibiliteit van pakket en socket
- Docking- en laadbordindeling van de handler
- Testomstandigheden: omgevingstemperatuur, hoge temperatuur of lage temperatuur.
- Uitvoer van bakken en traceerbaarheid van de productie
Kosten van testhendelsKinderbed
Testtijd
Hoog
Efficiëntie op meerdere locaties
Hoog
Contactopbrengst
Kern
Gebruik en omschakeling
Kern
De balken illustreren het belang van de beslissing, niet de gemeten prestaties. De werkelijke kosten van de test moeten worden berekend op basis van uw apparaat, programma, interface en productiegegevens.
Productie-economie
Lagere testkosten, niet alleen een lagere prijs voor de tester.
Kopers van ATE vergelijken vaak eerst de aankoopprijs, maar de productie-economie wordt meestal bepaald door... testtijd, aantal parallelle locaties, hertestfrequentie, contactstabiliteit en systeembenutting.
Een goedkopere tester kan uiteindelijk duur uitvallen als deze niet over de benodigde kanalen, instrumenten of interfacecapaciteit beschikt voor het beoogde plan met meerdere locaties. Een te grote configuratie kan bovendien leiden tot ongebruikt kapitaal.
Het praktische doel is een systeemconfiguratie die de vereiste dekking en doorvoer biedt zonder te hoeven betalen voor instrumenten die het apparaat niet zal gebruiken.
Gebruikte ATE-verificatie
Vraag een configuratiepaspoort aan voordat u een gebruikt ATE-systeem evalueert.
Een gebruikte halfgeleidertester kan niet alleen op basis van de platformnaam worden beoordeeld. Vraag om een complete inventarisatie van de hardware, software en interfaces die bij het betreffende apparaat horen.
SysteemidentiteitDe modelnaam is slechts het beginpunt.
De waarde van een gebruikt ATE-systeem hangt af van de geïnstalleerde resources en of deze aansluiten bij het beoogde testprogramma.
VERIFIËREN
VOOR
CITAAT
VOOR
CITAAT
HardwareHoofdframe, testkop en koeling
Controleer het frametype, het aantal sleuven, het model van de testkop, lucht- of vloeistofkoeling en de stroomvereisten.
InstrumentatieModules, hoeveelheden en herzieningen
Vraag om exacte lijsten van digitale, analoge, PMU-, DPS-, hoogvermogen- of beeldopnamemodules.
SoftwareVersie, licenties en ontwikkeltools
Controleer of de controller, het besturingssysteem en de software de geïnstalleerde instrumenten ondersteunen.
InterfacePrintplaten, sockets, probe-interfaces en kabels
Geef aan wat er inbegrepen is en wat er apart ontworpen of aangeschaft moet worden voor het te testen apparaat.
VoorwaardeKalibratie, diagnose en onderhoudshistorie
Controleer de kalibratiedatums, de status bij het inschakelen, de diagnosegegevens en de vorige toepassing.
LeveringDemontage, verpakking en opstartwerkzaamheden
Geef nadere toelichting op de ondersteuning van de testkop, de exportverpakking, de montage, de installatie en de kalibratie na levering.
Ga verder met de beoordeling van de testcel.
Gerelateerde apparatuur en richtlijnen voor het testen van halfgeleiders
Gebruik deze links wanneer de vereisten verder reiken dan de tester zelf of wanneer de testfase nog moet worden gedefinieerd.
Teststations, handlers en ATE in de complete IC-testworkflow
Bekijk hoe wafertesten, de afhandeling van eindtesten en de elektrische testmiddelen samenwerken, van CP-testen tot het sorteren van verpakte apparaten.
Lees de testhandleiding voor halfgeleiders →
Vragen van kopers
Veelgestelde vragen over ATE-systemen voor halfgeleiders
Antwoorden op veelgestelde vragen over automatische testapparatuur, testcelintegratie en configuratie van gebruikte systemen.
Wat test een ATE-systeem voor halfgeleiders?
Het apparaat past geprogrammeerde digitale, analoge, vermogens- of parametrische stimuli toe op een geïntegreerde schakeling, meet de respons en vergelijkt de resultaten met testlimieten. Welke apparaten precies getest kunnen worden, hangt af van de geïnstalleerde instrumenten, software en de interface van het te testen apparaat.
Wat is het verschil tussen een ATE en een testhandler?
De ATE genereert en meet elektrische signalen. De testmedewerker verplaatst verpakte componenten, regelt de testtemperatuur, plaatst ze in de contactor en sorteert ze op basis van het resultaat dat de tester geeft.
Kan één ATE-systeem zowel wafersortering als eindtesten ondersteunen?
Mogelijk wel. Een geschikte tester kan worden aangesloten op een waferprober voor CP-testen of op een handler voor de eindtest, maar elke fase vereist andere interfacehardware, contactoplossingen, softwareflow en productie-integratie.
Hoe maak ik de keuze tussen een SoC-tester en een gespecialiseerde tester?
Begin bij de apparaatfuncties. Algemene SoC-platforms kunnen digitale, analoge en stroomvoorzieningsbronnen combineren, terwijl geheugen-, RF/mmWave- of hoogvermogenstoepassingen mogelijk gespecialiseerde instrumentatie of een specifiek platform vereisen.
Waarom hebben twee gebruikte ATE-systemen van hetzelfde model verschillende prijzen?
Hun mainframes, testkoppen, moduleaantallen, revisies, softwarelicenties, kalibratiestatus, interfacehardware en meegeleverde accessoires kunnen sterk verschillen. Een complete configuratielijst is vereist voordat een waardevergelijking mogelijk is.
Welke gegevens moet ik meesturen voor een offerte voor een ATE-systeem?
Vermeld het beoogde apparaat of de beoogde applicatie, het gewenste platform of model, de testfase, de benodigde digitale of analoge resources, het verwachte aantal locaties, de huidige interface-informatie, de gewenste machineconditie, de bestemming en het tijdschema.
Begin met het apparaat, het testprogramma of het beoogde ATE-model.
Geef aan welke halfgeleidertoepassing, benodigde testmiddelen, sorteer- of eindtestfase, voorkeursmerk of -model, conditie en bestemming ernaast worden gebruikt. We zullen de beschikbare systeemconfiguratie en de ontbrekende onderdelen van de testcel beoordelen.