ACCRETECH FP2000 晶圓框架處理探針

二手 ACCRETECH FP2000 晶圓和框架探針台,適用於 5 吋、6 吋和 8 吋晶圓。請諮詢配置、狀況、配件和全球配送資訊。

ACCRETECH FP2000 是一款自動框架式晶圓探針台,專為切割後的晶圓、半導體封裝以及安裝在切割框架上的相容裝置的電學測試而開發。它還可以處理相容的 5 至 8 英寸晶圓,從而允許在同一探針台配置上測試框架式產品和標準晶圓。

實際的裝載機、框架處理部件、卡盤、測試頭接口、探針卡設定以及可選的檢測功能取決於特定的二手設備。如需初步諮詢,請提供您當前探針台或測試儀的型號、晶圓或框架的清晰照片以及所需測試流程或設備故障的簡要描述。

ACCRETECH FP2000 frame handling wafer prober

ACCRETECH FP2000 機器信息

製造商 ACCRETECH / 東京精密
模型 FP2000
設備類型 自動晶圓幀處理探針
主要應用 對切割後的晶圓、封裝體以及連接到切割框架上的相容裝置進行電氣測試
訊框容量 根據製造商的型號信息,200毫米框架晶圓處理
晶圓能力 相容5至8吋晶圓
典型產品 CSP、WLCSP、切割晶圓、封裝和相容的MEMS應用
主要功能 框架或晶圓裝載、對準、位置校正和探針卡接觸
狀態 二手半導體測試設備
測試配置 由測試器、測試頭、探針卡、卡盤和已安裝的介面決定
交貨範圍 根據報價和已確認的設備清單
支援 初步故障排除、零件匹配和維修討論
船運 出口包裝和全球配送

框架、晶圓和裝置相容性

FP2000 型號名稱和 200 毫米框架容量本身並不能保證與特定產品相容。可用的機器還必須與切割框架、晶圓尺寸、晶片佈局、封裝狀況、探針卡、測試儀、卡盤和所需的接觸方式相匹配。

首次討論只需提供基本資訊:

  • 如果FP2000將取代現有設備,請提供您目前晶圓探針台或測試儀的型號。
  • 待測切割框架、晶圓、封裝或裝置的清晰照片
  • 探針卡或測試頭型號中,這些資訊很容易取得。
  • 簡要描述所需的測試流程或目前設備問題

詳細的框架尺寸、晶圓圖、晶片間距、介面圖和測試條件可以在可用機器與專案相關時再進行審查。

測試切割晶圓和框架裝置

FP2000 旨在對晶圓切割後仍附著在切割框架上的產品進行轉移和測試。其校正軟體有助於補償框架產品上的位置差異,從而使各個晶片或封裝能夠與探針卡對齊。

這使得該設備適用於晶片切割後位置可能發生變化的應用,或適用於需要在進行下一步封裝之前對CSP、WLCSP、MEMS或其他框架式產品進行電氣測試的應用。可靠的測試結果仍然取決於穩定的框架裝載、正確的對準、適當的校正設定以及探針與卡片的持續接觸。

測試儀、探針卡和框架集成

FP2000負責搬運框架或晶圓,並將裝置定位在探針卡下方,同時由連接的測試儀進行電氣測量。因此,探針、探針卡、測試頭、機械手臂、測試儀和軟體通訊必須作為一個完整的測試單元進行檢查。

僅憑品牌或晶圓尺寸,不能想當然地認為現有的探針卡、測試頭或框架就一定適用於現有設備。安裝前必須仔細檢查安裝方式、框架規格、卡盤設定、接點位置和測試器介面。

FP2000 的可用配置和交付範圍

不同的 ACCRETECH FP2000 晶圓探針台在框架裝載器、晶圓處理組件、卡盤配置、測試頭機械臂、條碼功能、高溫設備、探針標記檢測和軟體選項方面可能存在差異。購買前,應仔細檢查現有設備,確認其實際的框架處理和測試配置是否適用於目標產品和測試儀。最終交付範圍僅以報價單和確認的設備清單為準;測試儀、測試頭、機械臂、探針卡、框架、卡盒、冷卻器、計算機和接口組件僅在明確列出時才包含在內。

接收、啟動和初始幀測試

在將有價值的生產晶圓或框架裝置引入之前,應分階段對 FP2000 進行檢查和測試。

  1. 檢查包裝、機器櫃、框架裝載機、晶圓台、卡盤、控制面板和可見的搬運機構。
  2. 在移動設備之前,請拍攝任何撞擊痕跡、鬆動的部件、損壞的電纜或移位的組件。
  3. 將收到的機器、裝載機零件、機械手、介面和配件與確認的交貨清單進行核對。
  4. 運送後,檢查卡盤、工作台、對準系統和框架搬運組件是否仍牢固。
  5. 確認實際機器的電源、接地、壓縮空氣、真空、冷卻和其他設施需求。
  6. 啟動控制器,並在重置系統或更改設定之前記錄所有警報訊息。
  7. 在沒有生產框架的情況下運作裝載機、對準和工作台機構,並觀察它們的運動。
  8. 基本運作穩定後,使用適當的非生產框架或晶圓進行裝載、校正、步進和卸載檢查。

在評估電氣測試結果之前,應分別連接並驗證探針卡、測試頭和測試儀。如果出現車架移位、操作不穩定、平台運動異常、機械幹擾或同一警報重複出現等情況,請停止測試。

對準、聯繫和零件支持

不穩定的測試結果可能涉及框架變形、晶片位置變化、校正資料錯誤、晶圓對準、探針卡狀況、卡盤設定、測試頭連接或測試儀通訊。

在繼續生產之前,應檢查框架裝載故障、條碼錯誤、對準故障、探針標記不一致和觸點位置差異等問題。重置機器前,請記錄警報訊息以及出現問題的測試週期階段。

框架、晶圓、探針卡盤、卡盤、測試頭連接和警報螢幕的照片,以及一段簡短的操作影片(如有),可以為審查提供一個實際的起點。

我們的團隊可以協助進行初步故障分析、零件識別、替換零件匹配和維修方案討論。如有條件,我們還可以檢查相關的感測器、馬達、驅動器、電路板、電纜、真空組件、裝載機組件、平台部件和卡盤相關部件。

常見問題解答

ACCRETECH FP2000 能否測試我們切割後的晶圓或封裝?

這取決於框架格式、晶圓或封裝佈局、探針卡、測試儀、卡盤配置以及所需的接觸條件。請發送框架和產品照片以供初步審查。

FP2000 能否同時測試框架式產品與標準晶圓?

此模型平台支援框架處理以及相容的 5 至 8 吋晶圓處理。現有機器上安裝的裝載機和處理部件仍需確認。

FP2000 是否支援 6 吋相框?

支援6吋框架為可選配置。所需的裝載機和框架處理配置應在特定機器上確認。

測試器或探針卡是否包含在內?

僅包含報價單或確認交付範圍內明確列出的測試儀、測試頭、機械手臂、探針卡和介面組件。

您能協助解決車架載重、對準或接觸問題嗎?

是的。請提供機器型號、警報資訊、機架和探針卡照片,以及操作影片(如有)。我們可以協助進行初步故障排除、零件配對和維修方案討論。

聯絡我們了解 ACCRETECH FP2000

請提供您目前使用的晶圓探針台或測試儀型號、框架、晶圓或裝置照片,以及測試需求或設備故障的簡要描述。我們將首先審核基本應用,然後繼續提供必要的探針卡、測試頭介面、框架處理配置、更換零件或維修詳情。

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