Hệ thống kiểm tra bán dẫn tín hiệu hỗn hợp và SoC mô-đun Advantest T2000
Hệ thống kiểm tra bán dẫn dạng mô-đun Advantest T2000 dành cho SoC, kỹ thuật số, tín hiệu hỗn hợp, PMIC, ô tô.
Kiểm tra điện bán dẫn
Hệ thống ATE bán dẫn dùng để kiểm tra IC
Thiết bị kiểm tra tự động bán dẫn (ATE) áp dụng các xung điện được lập trình vào mạch tích hợp (IC), đo phản hồi và xác định xem thiết bị có đáp ứng các thông số kỹ thuật hay không. Hãy tham khảo các hệ thống ATE hiện có cho SoC, kỹ thuật số, tín hiệu hỗn hợp, PMIC và các ứng dụng liên quan, sau đó lựa chọn cấu hình máy kiểm tra phù hợp với thiết bị, giai đoạn kiểm tra và mục tiêu sản xuất của bạn.
Thiết bị hiện tại
Các hệ thống ATE bán dẫn hiện có
Xem xét lại bộ thiết bị hiện có, sau đó xác nhận các mô-đun đã lắp đặt, đầu thử nghiệm, phần mềm, trạng thái hiệu chuẩn và phần cứng giao diện của hệ thống thực tế đang được báo giá.
Hai thiết bị kiểm thử có cùng tên nền tảng có thể có khả năng rất khác nhau. Danh sách cấu hình đầy đủ quan trọng hơn chỉ riêng tên model.
Ứng dụng phù hợp
Hãy bắt đầu với các chức năng của thiết bị mà bạn cần kiểm tra.
Hệ thống ATE không chỉ được lựa chọn dựa trên số lượng chân hoặc thương hiệu. Các tài nguyên kiểm tra cần thiết đến từ các chức năng điện bên trong IC mục tiêu.
Tốc độ kỹ thuật số, độ chính xác tương tự, công suất thiết bị, khả năng chịu dòng điện cao, khả năng chụp ảnh và tài nguyên RF. Tất cả điều này có thể thay đổi sự kết hợp nền tảng và mô-đun chính xác.
Xem xét lại yêu cầu kiểm thử thiết bịKhu vực thiết bịCác nguồn lực kiểm thử điển hìnhCâu hỏi mua hàng chính
Điện tửSoC, MCU & FPGA
Các kênh kỹ thuật số mật độ cao, quét, bộ nhớ, định thời và đo lường tham số trên từng chân.
Tốc độ truyền dữ liệu, số lượng chân cắm và tài nguyên mẫu có phù hợp với thiết bị không?
Quyền lựcIC quản lý nguồn và IC ô tô
Nguồn cấp điện cho thiết bị, đo điện áp/dòng điện, nguồn điện cao áp hoặc dòng điện cao.
Liệu các mô-đun đã lắp đặt có thể cung cấp và đo lường các phạm vi hoạt động cần thiết không?
Tương tựBộ chuyển đổi tín hiệu hỗn hợp, ADC & DAC
Tạo dạng sóng, số hóa, PMU, định thời và đo lường tương tự độ nhiễu thấp.
Liệu thiết bị kiểm tra có đáp ứng được mục tiêu về băng thông, độ chính xác và dải động hay không?
Hình ảnhCảm biến hình ảnh CMOS
Thu thập hình ảnh, giao diện tốc độ cao, điều khiển kỹ thuật số, đo lường tương tự và các nguồn tài nguyên xử lý.
Các mô-đun thu hình, phần mềm và giao diện quang học có được bao gồm không?
ChuyênRF, Bộ nhớ hoặc Nguồn điện rời rạc
Các thiết bị đo lường RF, bộ nhớ hoặc nguồn điện chuyên dụng và phần cứng giao diện chuyên dụng.
Liệu một công cụ kiểm tra SoC thông thường có phù hợp hay cần một nền tảng chuyên dụng?
Ô thử nghiệm hoàn chỉnh
Máy kiểm thử chỉ là một phần của hệ thống ATE.
Việc phân loại wafer thành công hoặc kiểm tra cuối cùng phụ thuộc vào toàn bộ đường dẫn tín hiệu và cơ khí. Máy kiểm tra, phần cứng giao diện, bộ dò hoặc xử lý, phần mềm và luồng dữ liệu sản xuất phải hoạt động như một thể thống nhất.
Đầu dò hoặc tay cầm
Định vị chip bán dẫn hoặc thiết bị đóng gói, kiểm soát tiếp xúc và có thể cung cấp chức năng điều chỉnh nhiệt độ.
Giao diện DUT
Bo mạch thăm dò, bo mạch tải, ổ cắm, cụm pogo và cáp truyền tín hiệu kích thích và phép đo.
Đầu thử nghiệm & Thiết bị
Các mô-đun kỹ thuật số, tương tự, nguồn và tham số cung cấp các nguồn điện cần thiết cho thiết bị cần kiểm tra (DUT).
Chương trình thử nghiệm
Các mẫu, giới hạn, thời gian, trình tự đo lường và logic phân loại thực thi kế hoạch kiểm tra thiết bị.
Tích hợp dữ liệu và nhà máy
Kết quả được chuyển tiếp vào phân tích năng suất, truy xuất nguồn gốc, hệ thống MES và hệ thống kiểm soát sản xuất.
Việc mua một hệ thống máy tính chủ ATE mà không có giao diện và phần mềm phù hợp có thể khiến hệ thống không thể sử dụng được cho sản phẩm mục tiêu. Hãy xác nhận toàn bộ ô thử nghiệm trước khi so sánh báo giá.
Khám phá các giải pháp kiểm thử và xử lý →
Giai đoạn thử nghiệm
Hệ thống ATE sẽ hoạt động ở bước phân loại wafer hay bước kiểm tra cuối cùng?
Thiết bị kiểm tra điện có thể hỗ trợ cả hai giai đoạn, nhưng giao diện cơ khí, phần cứng tiếp xúc, tính song song và quy trình sản xuất lại khác nhau.
ATE được kết nối với trạm kiểm tra hoặc máy kiểm tra wafer.
Các thử nghiệm điện được thực hiện trực tiếp trên chip trước khi cắt. Ô mạch yêu cầu thẻ thăm dò, quy trình lập bản đồ wafer, điều kiện mâm cặp và giao diện máy thăm dò chính xác.
- Định dạng thẻ thăm dò và số lượng chân
- Kích thước wafer và yêu cầu về nhiệt độ
- Quy trình xác định khuôn mẫu tốt và bản đồ wafer
- Thăm dò đa điểm và năng suất tiếp xúc
ATE được kết nối với bộ xử lý kiểm tra bán dẫn.
Các IC đóng gói được đưa vào đế cắm, kiểm tra điện và phân loại theo kết quả. Mỗi ô cần có bộ điều khiển, HIFIX, công tắc tơ, bảng tải và thiết lập nhiệt độ phù hợp.
- Khả năng tương thích giữa bao bì và ổ cắm
- Định dạng bến đậu và bảng tải của thiết bị xử lý
- Điều kiện thử nghiệm ở nhiệt độ môi trường, nóng hoặc lạnh
- Khả năng truy xuất nguồn gốc sản phẩm và sản xuất của thùng chứa
Chi phí của cần gạt thử nghiệmCoT
Thời gian kiểm tra
Cao
Hiệu quả đa địa điểm
Cao
Năng suất tiếp xúc
Cốt lõi
Sử dụng & Chuyển đổi
Cốt lõi
Các thanh biểu đồ minh họa tầm quan trọng của quyết định, chứ không phải hiệu suất đo được. Chi phí thực tế của thử nghiệm phải được tính toán dựa trên thiết bị, chương trình, giao diện và dữ liệu sản xuất của bạn.
Kinh tế sản xuất
Chi phí xét nghiệm thấp hơn, không chỉ là giá thiết bị xét nghiệm thấp hơn.
Người mua thiết bị kiểm soát sản xuất (ATE) thường so sánh giá mua trước tiên, nhưng yếu tố kinh tế trong sản xuất thường được quyết định bởi... thời gian kiểm tra, số lượng vị trí song song, tỷ lệ kiểm tra lại, độ ổn định tiếp xúc và mức độ sử dụng hệ thống..
Một thiết bị kiểm tra giá rẻ có thể trở nên đắt đỏ nếu nó thiếu các kênh, thiết bị hoặc khả năng giao diện cần thiết cho kế hoạch đa địa điểm dự định. Cấu hình quá lớn cũng có thể khiến vốn đầu tư bị lãng phí.
Mục tiêu thực tế là cấu hình hệ thống sao cho đáp ứng được phạm vi phủ sóng và thông lượng cần thiết mà không phải trả tiền cho các thiết bị mà máy không sử dụng.
Đã sử dụng xác minh ATE
Yêu cầu cấp Giấy chứng nhận cấu hình trước khi đánh giá hệ thống ATE đã qua sử dụng.
Không thể đánh giá một máy kiểm tra bán dẫn đã qua sử dụng chỉ dựa trên tên thương hiệu. Hãy yêu cầu danh sách đầy đủ các thiết bị phần cứng, phần mềm và giao diện đi kèm với máy.
Nhận dạng hệ thốngTên mẫu chỉ là điểm khởi đầu.
Giá trị của một hệ thống ATE đã qua sử dụng phụ thuộc vào các tài nguyên được lắp đặt và liệu chúng có phù hợp với chương trình kiểm thử mục tiêu hay không.
XÁC MINH
TRƯỚC
TRÍCH DẪN
TRƯỚC
TRÍCH DẪN
Phần cứngMáy tính chủ, đầu kiểm tra và hệ thống làm mát
Xác nhận loại khung, số khe cắm, kiểu đầu kiểm tra, làm mát bằng không khí hoặc chất lỏng và yêu cầu về nguồn điện.
Thiết bị đo lườngCác học phần, số lượng và các đợt ôn tập
Yêu cầu danh sách chính xác các mô-đun kỹ thuật số, tương tự, PMU, DPS, công suất cao hoặc mô-đun chụp ảnh.
Phần mềmPhiên bản, Giấy phép & Công cụ Phát triển
Kiểm tra xem bộ điều khiển, hệ điều hành và phần mềm có hỗ trợ các thiết bị đã cài đặt hay không.
Giao diệnBo mạch, đế cắm, giao diện đầu dò và cáp
Xác định những thành phần nào đã được bao gồm và những thành phần nào cần được thiết kế hoặc tìm nguồn cung ứng riêng cho thiết bị cần kiểm thử (DUT).
Tình trạngLịch sử hiệu chuẩn, chẩn đoán và bảo dưỡng
Kiểm tra ngày hiệu chuẩn, trạng thái khởi động, hồ sơ chẩn đoán và ứng dụng trước đó.
Vận chuyểnPhạm vi tháo dỡ, đóng gói và khởi động
Làm rõ các khâu hỗ trợ đầu thử nghiệm, đóng gói xuất khẩu, lắp đặt, vận chuyển và hiệu chuẩn sau khi giao hàng.
Tiếp tục xem xét tế bào thử nghiệm
Hướng dẫn về thiết bị liên quan và kiểm tra chất bán dẫn
Hãy sử dụng các liên kết này khi yêu cầu vượt ra ngoài phạm vi của người kiểm thử hoặc khi giai đoạn kiểm thử vẫn cần được xác định.
Các trạm đo, bộ điều khiển và thiết bị kiểm tra tự động (ATE) trong quy trình kiểm tra IC hoàn chỉnh.
Xem xét cách các công đoạn kiểm tra wafer, xử lý kiểm tra cuối cùng và các nguồn lực kiểm tra điện hoạt động cùng nhau từ khâu kiểm tra CP đến khâu phân loại thiết bị đã đóng gói.
Đọc Hướng dẫn Kiểm tra Bán dẫn →
Câu hỏi của người mua
Câu hỏi thường gặp về hệ thống ATE bán dẫn
Giải đáp các câu hỏi thường gặp về thiết bị kiểm tra tự động, tích hợp buồng kiểm tra và cấu hình hệ thống sử dụng.
Hệ thống kiểm tra tự động (ATE) của chất bán dẫn kiểm tra những gì?
Nó áp dụng các tín hiệu kích thích kỹ thuật số, tương tự, nguồn hoặc tham số đã được lập trình vào một mạch tích hợp, đo phản hồi và so sánh kết quả với giới hạn kiểm tra. Các thiết bị cụ thể mà nó có thể kiểm tra phụ thuộc vào các thiết bị đo, phần mềm và giao diện của thiết bị cần kiểm tra (DUT) được cài đặt.
Sự khác biệt giữa ATE và trình xử lý kiểm thử là gì?
Hệ thống ATE tạo ra và đo các tín hiệu điện. Bộ phận xử lý thử nghiệm di chuyển các thiết bị đã đóng gói, kiểm soát nhiệt độ thử nghiệm, đặt chúng vào bộ tiếp điểm và phân loại chúng theo kết quả do máy thử trả về.
Liệu một hệ thống ATE có thể hỗ trợ cả việc phân loại wafer và kiểm tra cuối cùng không?
Về lý thuyết thì có. Một thiết bị kiểm tra phù hợp có thể kết nối với máy dò wafer để kiểm tra CP hoặc với bộ xử lý để kiểm tra cuối cùng, nhưng mỗi giai đoạn lại yêu cầu phần cứng giao diện, giải pháp tiếp xúc, quy trình phần mềm và tích hợp sản xuất khác nhau.
Tôi nên chọn giữa người kiểm thử SoC thông thường và người kiểm thử chuyên dụng như thế nào?
Hãy bắt đầu từ các chức năng của thiết bị. Các nền tảng SoC thông thường có thể kết hợp các tài nguyên kỹ thuật số, tương tự và nguồn điện, trong khi các ứng dụng bộ nhớ, RF/mmWave hoặc công suất cao có thể yêu cầu thiết bị chuyên dụng hoặc một nền tảng riêng biệt.
Tại sao hai hệ thống ATE đã qua sử dụng cùng một kiểu máy lại có giá khác nhau?
Các thiết bị chủ, đầu kiểm tra, số lượng mô-đun, phiên bản, giấy phép phần mềm, trạng thái hiệu chuẩn, phần cứng giao diện và phụ kiện đi kèm của chúng có thể rất khác nhau. Cần có danh sách cấu hình đầy đủ trước khi so sánh giá trị.
Tôi cần gửi những giấy tờ gì để nhận báo giá hệ thống ATE?
Hãy cung cấp thông tin về thiết bị hoặc ứng dụng mục tiêu, nền tảng hoặc kiểu máy ưu tiên, giai đoạn thử nghiệm, tài nguyên kỹ thuật số hoặc tương tự cần thiết, số lượng địa điểm dự kiến, thông tin giao diện hiện tại, tình trạng máy móc ưu tiên, điểm đến và lịch trình.
Bắt đầu với thiết bị, chương trình kiểm thử hoặc mô hình ATE mục tiêu.
Hãy chia sẻ thông tin về ứng dụng bán dẫn, các nguồn lực kiểm tra cần thiết, giai đoạn phân loại wafer hay kiểm tra cuối cùng, thương hiệu hoặc mẫu mã ưu tiên, tình trạng và điểm đến. Chúng tôi sẽ xem xét cấu hình hệ thống hiện có và các bộ phận còn thiếu của buồng kiểm tra.